x熒光光譜儀1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
???2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、
???（PBB）和醚（PBDE）中的溴
???3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對(duì)濕度：≤70
???電源：AC220V±10、50/60Hz
???4．技術(shù)指標(biāo)新高靈敏度探測器（分辨率達(dá)149Ev），精密的放大電路，
???提高Cd、Pb元素的靈度。
???檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
???樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
???樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
???小樣品腔尺寸：300×300×100mm
???大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
???X射線管：材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
???照射直徑：2、5、8mm
???探測器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器
???濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇
???樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配）
???樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機(jī)
???微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
???定量分析：理論Alpha

X熒光光譜儀X熒光光譜儀
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測。
X熒光光譜儀分類
X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以能量特征為原理的稱為能量色散型。
x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
1.檢測對(duì)象:液體/固體/粉末-固體樣品:點(diǎn)射配件-液體樣品:樣品池配件，適用于8mm瓶,NMR管和MP管?
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式：-重量輕-遠(yuǎn)程控制-藍(lán)牙無線數(shù)據(jù)傳輸(或U)-電池可持續(xù)運(yùn)作5小時(shí)-數(shù)據(jù)庫可無限擴(kuò)充?
4.全球小的高性能光譜
5.120mW激發(fā)光源，功率可變
6.熒光成像可選
7.達(dá)到極限衍射的成像和光譜
8.數(shù)據(jù)庫可無限擴(kuò)展
X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度快。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。目前含量測定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

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