X射線測厚儀thick800a是天瑞儀器專業(yè)研制的檢測金屬厚度的儀器，已經(jīng)在電鍍行業(yè)得到大規(guī)模的應(yīng)用，深受客戶**。儀器采用獨(dú)特的上照式機(jī)構(gòu)，能夠適應(yīng)各種不規(guī)則和體積大小樣品的表面鍍層測試。三維自動平臺，可實(shí)現(xiàn)X/Y/Z軸的自動定位，操作性能好。產(chǎn)品實(shí)際性能同類品牌三年以上。X射線電鍍層膜厚儀介紹及圖片：


X射線膜層測厚儀技術(shù)參數(shù)：


儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制

檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

2、儀器重量：90kg

3、SDD半導(dǎo)體探測器：

探測器輸入電壓：±12V，+5V

探頭窗口面積：25mm-2---

探頭窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1

材：W

窗口：鈹窗

制冷方式：風(fēng)冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發(fā)生器：

輸入電壓：24V

輸入電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2

燈絲電壓：5V

燈絲電流：3.5A

6、MCA多道分析器：

輸入電壓：±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數(shù)：12位

分析道數(shù)：4096道

7、準(zhǔn)直器系統(tǒng)：

準(zhǔn)直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)

濾光片：Al(可根據(jù)要求選配)

8、高清晰攝像頭：

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：U2.0

傳感器廠商：索尼

快門類型：面陣

光學(xué)尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

9、自動對焦系統(tǒng)：

通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器

實(shí)現(xiàn)樣品高度的自動對焦。



廠商實(shí)力：



江蘇天瑞儀器的發(fā)展得到了各級的大力支持與幫助，現(xiàn)任局、十二屆**會長，現(xiàn)任局、政協(xié)第十二屆全國會，時任局、副總理等各級多次來訪視察工作！



現(xiàn)任局、十二屆**會長等人來我公司調(diào)研

現(xiàn)任局常、政協(xié)第十二屆全國會委等參觀天瑞儀器


江蘇天瑞儀器股份有限公司被授予“火炬計(jì)劃重點(diǎn)高新技術(shù)企業(yè)”，“江蘇省高新技術(shù)企業(yè)”，“江蘇省軟件企業(yè)”，“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”，“江蘇省規(guī)劃布局內(nèi)重點(diǎn)軟件企業(yè)”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術(shù)研究中心”等榮譽(yù)稱。產(chǎn)品具有國際的技術(shù)水平，X熒光光譜儀系列產(chǎn)品被認(rèn)定為“重點(diǎn)新產(chǎn)品”和“江蘇省高新技術(shù)產(chǎn)品”。產(chǎn)品品種齊全，為環(huán)境保護(hù)與安全、工業(yè)測試與分析及其它領(lǐng)域提供專業(yè)解決方案。



X射線電鍍層測厚儀輻射安全許可證



X射線鍍層測厚儀計(jì)量證書。



售后服務(wù)體系：



只要客戶方的系統(tǒng)存在問題，請即刻我司的售后服務(wù)電話由我司技術(shù)工程師遠(yuǎn)程指導(dǎo)用戶解決問題。免費(fèi)服務(wù)電話：800-9993-800，24小時服務(wù)：400-7102-888

快速的現(xiàn)場服務(wù)

當(dāng)客戶方的系統(tǒng)被診斷為系統(tǒng)故障，而無法通過電話／電子郵件方式、遠(yuǎn)程撥入分析等手段解決時，我們的現(xiàn)場工程師會帶上相應(yīng)的系統(tǒng)工具和軟件立即趕赴現(xiàn)場進(jìn)行緊急維護(hù)。我司承諾在接到業(yè)主維修及技術(shù)服務(wù)要求后立即做出相應(yīng)，在遠(yuǎn)程不能解決問題的情況下，我司工程人員將在24小時內(nèi)趕到現(xiàn)場，48小時解決出現(xiàn)的問題，保證系統(tǒng)恢復(fù)正常運(yùn)行。

定期訪問交流

定期訪問交流

在客戶系統(tǒng)運(yùn)行過程中，我司將采取專人定期、不定期方式進(jìn)行訪問交流，調(diào)查項(xiàng)目實(shí)施和維護(hù)情況，聽取用戶意見，現(xiàn)場解決用戶存在問題，現(xiàn)場對系統(tǒng)進(jìn)行測試和優(yōu)化，及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)存在的問題或潛在的故障，提前消除隱患，確保系統(tǒng)安全、穩(wěn)定的運(yùn)行，并對此系統(tǒng)運(yùn)行質(zhì)量評估。

以上客戶服務(wù)響應(yīng)方式并不是相互孤立、互不相關(guān)的，而是以公司的客戶服務(wù)中心的組織結(jié)構(gòu)為依托，多種靈活的服務(wù)方式相互滲透、緊密結(jié)合成為完整統(tǒng)一的客戶服務(wù)故障響應(yīng)體系。這種體系經(jīng)多個大型工作項(xiàng)目的實(shí)際運(yùn)行體驗(yàn)，以被認(rèn)為是高效可行的故障響應(yīng)方式。

故障響應(yīng)

針對該項(xiàng)目我公司將以優(yōu)良的服務(wù)態(tài)度，我公司承諾在接到業(yè)主維修及技術(shù)服務(wù)要求后立即響應(yīng)，在遠(yuǎn)程能解決問題的情況下，30分鐘以內(nèi)響應(yīng)，12小時以內(nèi)完成提出的維修要求，緊急情況2小時內(nèi)趕赴現(xiàn)場搶修，一般情況下24小時到達(dá)現(xiàn)場。若48小時內(nèi)無法解決問題，需更換設(shè)備或送修，我方承諾提供備機(jī)，保證系統(tǒng)恢復(fù)正常運(yùn)行。



客戶服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)

天瑞儀器已在國內(nèi)近30個主要城市設(shè)立客戶服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，提品現(xiàn)場維護(hù)與技術(shù)支持服務(wù)。服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)售后服務(wù)工程師全部經(jīng)過嚴(yán)格專業(yè)培訓(xùn)，具備豐富的產(chǎn)品安調(diào)與維護(hù)保養(yǎng)經(jīng)驗(yàn)?？蛻舴?wù)網(wǎng)點(diǎn)同時設(shè)置備品備件庫，根據(jù)周邊地區(qū)客戶使用的天瑞儀器產(chǎn)品數(shù)量，配置充足的常用備品備件；根據(jù)備品備件消耗情況，由上級主管區(qū)域服務(wù)中心動態(tài)調(diào)配補(bǔ)充備品備件庫。

涂鍍層測厚儀精度的影響有哪些因素？
1．影響因素的有關(guān)說明
a基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d邊緣效應(yīng)本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e曲率試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。
g磁場周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
h附著物質(zhì)本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i測頭壓力測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j測頭的取向測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
很多金屬制品以及合金飾品都會進(jìn)行電鍍，但是對于電鍍的厚度是需要用進(jìn)行測量的，合格的產(chǎn)品才會被銷往市場上，目前國產(chǎn)鍍層測厚儀已經(jīng)發(fā)展的比較完善，現(xiàn)在國產(chǎn)鍍層測厚儀的種類也是非常多的，那么國產(chǎn)鍍層測厚儀使用時需要注意什么？
1，基體金屬特性：對于磁性方法，國產(chǎn)鍍層測厚儀的標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)該與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似，所以在使用的時候國產(chǎn)鍍層測厚儀的標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)該具備基體金屬特性這個方面；

2，基體金屬厚度：國產(chǎn)鍍層測厚儀在使用之前要檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，進(jìn)行校準(zhǔn)后可以測量；
3，邊緣效應(yīng)：不應(yīng)在緊靠試件的突變處，使用國產(chǎn)鍍層測厚儀的時候不應(yīng)該在邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量；
4，曲率：對于曲率的測量，不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量，使用國產(chǎn)鍍層測厚儀的時候這一點(diǎn)是非常重要的，曲率的測量并不是簡單的彎曲表面測量；
5，讀數(shù)次數(shù)：通常國產(chǎn)鍍層測厚儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)，覆蓋層厚度的局部差異，也要求國產(chǎn)鍍層測厚儀在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量，表面粗造時更應(yīng)如此。
此外測量的時候還需要注意被測量物品的表面清潔度，測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，保證國產(chǎn)鍍層測厚儀測量時周圍沒有任何的磁場干擾，因?yàn)榇艌龅母蓴_程度也會影響國產(chǎn)鍍層測厚儀的時候，此外還應(yīng)該注意國產(chǎn)都城測厚儀的測頭取向，測頭的放置方式對測量有影響，在測量時應(yīng)該與工件保持垂直。
按照標(biāo)準(zhǔn)指導(dǎo)性技術(shù)檔GB/Z 20288-2006《電子電器產(chǎn)品中有害物質(zhì)檢測樣品拆分通用要求》中規(guī)定：表面處理層應(yīng)盡量與本體分離（鍍層），對于確定無法分離的鍍層，可對表面處理層進(jìn)行初篩（使用X射線熒光光譜儀（XRF）手段），篩選合格則不用拆分；篩選不合格，可使用非機(jī)械方法分離（如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學(xué)溶劑溶劑提取額）。對鍍層樣品進(jìn)行RoHS測試時，先用EDX0B儀器直接進(jìn)行鍍層RoHS測試，如果合格則樣品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)。如果鍍層不合格將進(jìn)行下步拆分測試。


鍍層測厚儀與傳統(tǒng)方法的區(qū)別：

項(xiàng)目

傳統(tǒng)化學(xué)分析方法（滴定法、ICP、AAS等方法和設(shè)備）

X熒光光譜分析方法

分析速度

分析速度比較慢，快速的測試方法也要10～30min得到測試結(jié)果

一般只需1～3min就可以得到測試結(jié)果結(jié)果

分析效果

測試結(jié)果受人為因素影響很大，測試結(jié)果重復(fù)性不高

幾乎無人為因素影響，測試精度很高，測試重復(fù)性很高

勞動強(qiáng)度

全手工分析勞動強(qiáng)度大

X測試過程大部分由儀器完成，人員勞動強(qiáng)度極低。

同時分析元素?cái)?shù)

一般一次只能分析一個元素

同時可分析幾十種元素

是否與化學(xué)組份、化學(xué)態(tài)有關(guān)

受到待測元素的價態(tài)及化學(xué)組成的影響，樣品不同的價態(tài)和化學(xué)組成要采用不同的化學(xué)分析方法

純物理測量，與樣品的化學(xué)組份、化學(xué)態(tài)無關(guān)

分析測試成本

需要大量的化學(xué)品，和較復(fù)雜的處理過程，測試成本比較高

無需要制樣，不需要化學(xué)品，樣品處理過程簡單，測試成本很低

人員要求

對測試人員需要進(jìn)行長期嚴(yán)格的培訓(xùn)，人員操作技術(shù)要求高

對人員技術(shù)要求很低，普通的工人經(jīng)過簡單的培訓(xùn)即可熟練操作使用

X射線鍍層測厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及平臺。是功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度平臺可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。 2011年1月25日，天瑞儀器在深圳創(chuàng)業(yè)板塊上市。代碼為300165。分析儀器行業(yè)的家也是目前一家上市公司，公司現(xiàn)有員工1100人，包括研發(fā)部、技術(shù)部、生產(chǎn)部、國內(nèi)業(yè)務(wù)部及海外市場部、品管部、計(jì)劃部、采購部、倉管部、人力資源部、財(cái)務(wù)部、及董秘處和行政部等部門，且公司規(guī)模日益壯大。公司擁有國際的X熒光分析技術(shù)領(lǐng)域的專家隊(duì)伍，具有雄厚的資金勢力、的技術(shù)水平、服務(wù)標(biāo)準(zhǔn)和先進(jìn)的管理模式。同時，公司與國內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)研究院所和企業(yè)保持著密切的合作關(guān)系，實(shí)時追蹤國際X熒光分析領(lǐng)域*的理論和技術(shù)。目前公司已被授予“民營科技企業(yè)”、“江蘇省高新技術(shù)企業(yè)”、“蘇州市分析儀器工程技術(shù)研究中心”、 “江蘇省昆山市企業(yè)技術(shù)中心”、“江蘇省昆山市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)所RoHS檢測二室”等稱，營銷力的ROHS檢測儀器生產(chǎn)廠家。

公司的售后服務(wù)體系分為：售后服務(wù)片區(qū)（劃分）、客服和技術(shù)引導(dǎo)與維護(hù)。服務(wù)片區(qū)劃分已經(jīng)完全覆蓋全國主要省市，主要根據(jù)客戶的分布和公司業(yè)務(wù)區(qū)域的劃分，把大陸劃分12個工作區(qū)域， 包括：廣州、佛山、湖北片區(qū)，廈門片區(qū)，珠海、中山、云貴川片區(qū)， 北京、天津、河南、河北片區(qū)， 山東片區(qū)，蘇州、安徽、上海片區(qū)，惠州、汕頭、福建片區(qū)，深圳、東莞片區(qū)，浙江片區(qū)、山西、陜西西北片區(qū)，青海片區(qū)、東北三省片區(qū)。另外，除大陸以外片區(qū)中國香港、及海外片區(qū)。公司通過電話等遠(yuǎn)程維護(hù)、、返廠維修以及對客戶使用人員的技術(shù)培訓(xùn)來實(shí)現(xiàn)技術(shù)的應(yīng)到和維護(hù)。

公司的X熒光檢測技術(shù)具有快速、、無損的特點(diǎn)。X熒光分析儀可以應(yīng)用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領(lǐng)域，如：電子電器（RoHS檢測）、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)
電鍍簡單的說就是將接受電鍍的部件浸于含有被沉積金屬化合物的水溶液中,以電流通過鍍液,使電鍍金屬析出并沉積在部件上。因?yàn)橛猛竞筒牧喜煌?，一般的電鍍有鍍鋅、鍍金、鍍銀、鍍鉻、鍍錫、鍍鎳和鍍銅鎳合金等，根據(jù)需要鍍層又分為一層、二層和多層電鍍等。從技術(shù)方便來話，電鍍的鍍層不僅僅要平整還要均勻，而對電鍍的鍍層厚度要求也要，比如電鍍金，鍍的太厚，電鍍廠家的成本就要增加，而鍍的薄了，又可能滿足不了客戶的需求，所以電鍍的膜厚測量也是電鍍技術(shù)能力和成本的一個重要指標(biāo)。
專業(yè)提供電鍍鍍層膜厚儀Thick 800A，解決客戶鍍層膜厚測量的難題

利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計(jì)量儀器。針對檢測樣本的不同種類，可在下列3種型中進(jìn)行選擇。測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型，能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型，適合對陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測量的型。


兼顧易操作性與安全性
放大了開口，同時樣本室的門也可單手輕松開閉。從而提高了取出、放入檢測樣本的操作簡便性，并且該密封結(jié)構(gòu)也大大減少了X射線泄漏的風(fēng)險，讓用戶放心使用。

檢測部位可見
通過設(shè)置大型觀察窗、修改部件布局，使得樣本室門在關(guān)閉狀態(tài)下亦可方便地觀察檢測部位。

清晰的樣本圖像
使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭，采用全數(shù)碼變焦，從而消除位置偏差，可以清晰地觀察數(shù)十μm的微小樣本。
另外，亦采用LED作為樣本觀察燈，無需像以往的機(jī)型那樣對燈泡進(jìn)行更換。
電鍍層膜厚儀Thick800A:

測量元素：原子序數(shù)13（Al）～92（U）
X射線源：管電壓：45 kV
FT：Mo FTh：W FTL：Mo
檢測器：Si半導(dǎo)體檢測器（SDD）（無需液氮）
型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
產(chǎn)品優(yōu)勢：
采用非真空樣品腔；專業(yè)用于PCB鍍層厚度，金屬電鍍鍍層分析；可同時分析鍍層中的合金成分比列；多鍍層，1～5層；
五金鍍層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對鍍層厚度有了明確要求。
鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
五金鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
五金鍍層測厚儀測量值精度的影響因素
1．影響因素的有關(guān)說明
a基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表
d邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。
g磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
h附著


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