國產(chǎn)xrf光譜儀介紹

EDX4500 國產(chǎn)X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、材料中元素的快速、準確分析。
該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率：采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

性能特點

專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

技術(shù)指標

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99
同時分析元素：24種元素同時分析
功能范圍：水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析
分析精度：0.05 （對含量96以上元素）
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測量時間：60s—200s
能量分辨率為：（±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA

標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
外觀尺寸： 650×608×466 mm
樣品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg

高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去

測試高爐渣、生鐵、燒結(jié)礦、球團礦、白云石、膨潤土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應(yīng)用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm

產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術(shù)指標：
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
儀器技術(shù)指標：
1、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測試對象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99
4、同時分析元素：幾十種元素同時分析
5、任意多個可選擇的分析和識別模型
6、相互的基體效應(yīng)校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測量重復(fù)性可達：0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃
10、工作濕度：≤70
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測量時間 10-200S可以調(diào)

儀器配置：
1、探測模塊：Si-PIN
2、X射線源：40kV、100uA
3、準直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動切換
4、濾光片：內(nèi)置Al Ti Cu
5、樣品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，軟件安裝在Microsoft Windows CE系統(tǒng)操作靈活簡單，很好的支持PDA系統(tǒng)升級和軟件升級
7、指示和警告：電源指示燈，輻射警告燈
8、保護系統(tǒng)：上蓋打開時，高壓自動關(guān)閉
9、樣品放置：配萬向測試支架，隨心放置各種樣品
10、報告輸出：藍牙打印
11、安全防護箱：400*300*350mm，4.5kg

應(yīng)用領(lǐng)域
主要應(yīng)用黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
ICP測試儀和XRF測試儀哪個更適合?選ICP測試儀還是XRF測試儀?這恐怕對于工作內(nèi)容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實驗員來說，是很容易出現(xiàn)的疑問了。如果從購置價格、使用成本和方便程度、分析結(jié)果可靠性等幾個方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測試儀除了被用來進行材料表面的定性檢測，可用來測量元素的總含量嗎?準確嗎?ICP測試儀檢測是僅僅對元素進行表面定性分析嗎?它跟XRF測試儀有什么區(qū)別?針對這些疑問，看看七嘴八舌的們?nèi)绾握f?你挺誰?XRF測試儀不但在元素定性上有ICP測試儀無可比擬的優(yōu)點，同時在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關(guān))。所以這條上應(yīng)該是XRF測試儀和ICP測試儀都可以定量。A：XRF測試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測試儀，樣品需要進行化學(xué)處理為溶液。對于XRF測試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應(yīng)會比較嚴重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機官能團定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測試儀定量較為簡單實在，易于操作。XRF測試儀做標樣和樣品處理需要配套的制樣設(shè)備，包括壓片機和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測試儀不能定量的結(jié)論，相對于測純金屬、合金含量分析，我認為XRF測試儀是比ICP測試儀更合適!我們實驗室就是把XRF測試儀+ICP測試儀配合起來用，利用XRF測試儀定性優(yōu)勢配合ICP測試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個要看你的待測組分的含量和你的測試要求了，畢竟這兩臺儀器的各有各的優(yōu)勢和缺點。我建議買一臺EDXRF測試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測試前做一次心里有個底，找個靠譜的通過CNAS認證的實驗室做一下，基本問題不會很大，真的要購買儀器的話這個真心沒有底。有的公司就為了測催化劑中的氯買了一臺40W美元的WDXRF測試儀。D：請果斷選擇ICP測試儀，雖然價格和使用程度上來說相對困難，但是結(jié)果可靠性比XRF測試儀高出光年倍。E：XRF測試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結(jié)果沒有ICP測試儀好，就算有標樣進行校正也存在誤差;但是ICP測試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測液體中的金屬離子含量用ICP測試儀當然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會增大，這個要看你要求的測量精度了!G：都很準的啊，但看具體元素了，一般XRF測試儀主要測固體粉末，ICP測試儀測能溶的固體和液體!H：XRF測試儀是檢測物質(zhì)中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測試儀一般應(yīng)用于溶液中化合物離子的含量分析。多數(shù)認為XRF測試儀在表面化學(xué)分析方面很準，但是必須購買對應(yīng)的標準品，用來繪制標準曲線。此外，XRF測試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結(jié)果的準確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測試儀測溶液中的PPM級的元素含量。如果保證操作得當、曲線配置好的話，結(jié)果也會相當準。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點，您應(yīng)該知道自己在面對ICP測試儀和XRF測試儀時該選擇哪種方法了吧!

http://smcgdsz.com