合金測(cè)試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進(jìn)口SDD探測(cè)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
ICP測(cè)試儀和XRF測(cè)試儀哪個(gè)更適合?選ICP測(cè)試儀還是XRF測(cè)試儀?這恐怕對(duì)于工作內(nèi)容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實(shí)驗(yàn)員來說，是很容易出現(xiàn)的疑問了。如果從購置價(jià)格、使用成本和方便程度、分析結(jié)果可靠性等幾個(gè)方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測(cè)試儀除了被用來進(jìn)行材料表面的定性檢測(cè)，可用來測(cè)量元素的總含量嗎?準(zhǔn)確嗎?ICP測(cè)試儀檢測(cè)是僅僅對(duì)元素進(jìn)行表面定性分析嗎?它跟XRF測(cè)試儀有什么區(qū)別?針對(duì)這些疑問，看看七嘴八舌的們?nèi)绾握f?你挺誰?XRF測(cè)試儀不但在元素定性上有ICP測(cè)試儀無可比擬的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關(guān))。所以這條上應(yīng)該是XRF測(cè)試儀和ICP測(cè)試儀都可以定量。A：XRF測(cè)試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測(cè)試儀，樣品需要進(jìn)行化學(xué)處理為溶液。對(duì)于XRF測(cè)試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測(cè)量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應(yīng)會(huì)比較嚴(yán)重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測(cè)試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測(cè)試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機(jī)官能團(tuán)定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測(cè)試儀定量較為簡(jiǎn)單實(shí)在，易于操作。XRF測(cè)試儀做標(biāo)樣和樣品處理需要配套的制樣設(shè)備，包括壓片機(jī)和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測(cè)試儀不能定量的結(jié)論，相對(duì)于測(cè)純金屬、合金含量分析，我認(rèn)為XRF測(cè)試儀是比ICP測(cè)試儀更合適!我們實(shí)驗(yàn)室就是把XRF測(cè)試儀+ICP測(cè)試儀配合起來用，利用XRF測(cè)試儀定性優(yōu)勢(shì)配合ICP測(cè)試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個(gè)要看你的待測(cè)組分的含量和你的測(cè)試要求了，畢竟這兩臺(tái)儀器的各有各的優(yōu)勢(shì)和缺點(diǎn)。我建議買一臺(tái)EDXRF測(cè)試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測(cè)試前做一次心里有個(gè)底，找個(gè)靠譜的通過CNAS認(rèn)證的實(shí)驗(yàn)室做一下，基本問題不會(huì)很大，真的要購買儀器的話這個(gè)真心沒有底。有的公司就為了測(cè)催化劑中的氯買了一臺(tái)40W美元的WDXRF測(cè)試儀。D：請(qǐng)果斷選擇ICP測(cè)試儀，雖然價(jià)格和使用程度上來說相對(duì)困難，但是結(jié)果可靠性比XRF測(cè)試儀高出光年倍。E：XRF測(cè)試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結(jié)果沒有ICP測(cè)試儀好，就算有標(biāo)樣進(jìn)行校正也存在誤差;但是ICP測(cè)試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測(cè)液體中的金屬離子含量用ICP測(cè)試儀當(dāng)然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測(cè)不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會(huì)增大，這個(gè)要看你要求的測(cè)量精度了!G：都很準(zhǔn)的啊，但看具體元素了，一般XRF測(cè)試儀主要測(cè)固體粉末，ICP測(cè)試儀測(cè)能溶的固體和液體!H：XRF測(cè)試儀是檢測(cè)物質(zhì)中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測(cè)試儀一般應(yīng)用于溶液中化合物離子的含量分析。多數(shù)認(rèn)為XRF測(cè)試儀在表面化學(xué)分析方面很準(zhǔn)，但是必須購買對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)品，用來繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。此外，XRF測(cè)試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結(jié)果的準(zhǔn)確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測(cè)試儀測(cè)溶液中的PPM級(jí)的元素含量。如果保證操作得當(dāng)、曲線配置好的話，結(jié)果也會(huì)相當(dāng)準(zhǔn)。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點(diǎn)，您應(yīng)該知道自己在面對(duì)ICP測(cè)試儀和XRF測(cè)試儀時(shí)該選擇哪種方法了吧!

天瑞儀器公司是全球?qū)I(yè)生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺(tái)式X熒光合金分析儀EDX3600H,融匯全球的合金分析技術(shù)，配備合金測(cè)試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測(cè)試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測(cè)效果。



EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測(cè)試專門開發(fā)的儀器類型。
具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測(cè)試、合分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。

性能特點(diǎn):

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
針對(duì)合金的測(cè)試而開發(fā)的專用配件
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

標(biāo)準(zhǔn)配置：

合金測(cè)試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進(jìn)口SDD探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器 SNE
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
分析精度：0.05（含量高于96以上的樣品、21次測(cè)試穩(wěn)定性）
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

應(yīng)用領(lǐng)域：

檢測(cè)以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品
XRF測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：操作界面簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，快捷無損檢測(cè)，在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析采用1275eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測(cè)量的精度。進(jìn)口高端DSP數(shù)字處理芯片能夠檢測(cè)鹵族元素的含量電控全自動(dòng)機(jī)蓋升降軟件控制同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測(cè)量的部位電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的X光管的壽命外觀高貴，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾采用獨(dú)特位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。自動(dòng)譜線識(shí)別、多元素同時(shí)定性定量分析、讓用戶方便認(rèn)識(shí)分析樣品的組成國(guó)際ling先的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法、網(wǎng)絡(luò)算法等客戶可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個(gè)分析方法設(shè)置了自動(dòng)安全防護(hù)開關(guān)，以確保用戶安全使用。


XRF測(cè)試儀產(chǎn)品介紹及應(yīng)用范圍：環(huán)保是世界的潮流，不斷出現(xiàn)的環(huán)境污染事件，世界各國(guó)都陸續(xù)了相關(guān)控制商品中有害元素含量的法規(guī)，而且對(duì)有害元素的限制值呈日漸降低的趨勢(shì)。面對(duì)這市場(chǎng)需求，秉譜儀器，無微不至的精神，采用zui新技術(shù)，特別設(shè)計(jì)了520L系列的X熒光光譜儀。應(yīng)用領(lǐng)域：金屬冶金行業(yè)微量元素的分析及金屬中微量有害元素的分析環(huán)保土壤、空氣及水等介質(zhì)中痕量重金屬的分析金屬成品制造行業(yè)樹脂膜層中微量元素的分析,貴金屬行業(yè)中微量對(duì)人體有害元素微量元素的分析,稀土行業(yè)中微量元素的分析,金屬鍍層行業(yè)金屬鍍層亞納米級(jí)厚度的分析,外貿(mào)出口行業(yè)中對(duì)人體有害元素微量的分析,玩具出口行業(yè)中八大中金屬微量元素的分析.
XRF分析儀器是利用X射線無損檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到0CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域

合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素）
秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動(dòng)了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的獨(dú)到之處在于：通過巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來識(shí)別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。

高效真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求；同時(shí)引入了目前先進(jìn)的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好，適用面更廣；

優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；

獨(dú)特的抗震性設(shè)計(jì)，高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過了第三方權(quán)威機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認(rèn)證；

在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、在線檢測(cè)以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)中充分發(fā)揮作用。



主機(jī)標(biāo)準(zhǔn)配置：

上照式光路系統(tǒng)直射模式 SDD探測(cè)器 數(shù)字多道處理器 美國(guó)進(jìn)口高壓

進(jìn)口牛津鈹窗X射線管 智能測(cè)試軟件 校正模塊內(nèi)置 封閉式定向散熱系統(tǒng)

高阻尼可動(dòng)防震緩沖支腳 定制CCD高清攝像頭

整套設(shè)備包括: Ｘ?zé)晒夥治鲋鳈C(jī)、電腦、打印機(jī)、粉碎機(jī)、壓片機(jī)、真空泵



錄井行業(yè)應(yīng)用案例

l 巖心成份普查：

僅需簡(jiǎn)單前處理，微量多種元素成分盡在掌握。



l 現(xiàn)時(shí)分析

能快速、現(xiàn)場(chǎng)追蹤巖心數(shù)據(jù)，圈定油氣邊界。單個(gè)樣品30多種元素測(cè)試僅需1~4分鐘；



l 現(xiàn)場(chǎng)分析

獨(dú)特的減震、超小的真空腔、超穩(wěn)固樣品靜態(tài)控制結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使儀器可以應(yīng)對(duì)各種現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的檢測(cè)任務(wù)；



儀器性能優(yōu)勢(shì)：

儀器外形小巧，簡(jiǎn)潔大方，可用于車載和實(shí)驗(yàn)室，使用方法簡(jiǎn)單，測(cè)試效率高；

測(cè)試時(shí)上照式光路設(shè)計(jì)加上真空測(cè)試腔有效杜絕現(xiàn)場(chǎng)環(huán)中粉塵對(duì)探測(cè)器的污染；

準(zhǔn)直器極大化設(shè)計(jì)使樣品受激光斑達(dá)mm2 保證測(cè)試的豐富性，提高測(cè)試度

封閉式定向風(fēng)冷散熱保證X射線管工作溫度穩(wěn)定，延長(zhǎng)X射線管壽命；

分析樣品速度快，快可達(dá)60S，并且可同時(shí)分析40種元素；

高阻尼可動(dòng)支腳防震設(shè)計(jì)加上超穩(wěn)真空控樣設(shè)計(jì)保證了每一個(gè)樣品與光管、探測(cè)器幾何關(guān)系時(shí)刻相一致，屏蔽現(xiàn)場(chǎng)震動(dòng)所造成的影響；

大面積厚晶體SDD探測(cè)器，配上RhX光管以及良好的散熱性，有力地確保測(cè)試高效穩(wěn)定；

X射線屏蔽設(shè)計(jì)和高材料及安全聯(lián)動(dòng)裝置有效保證無輻射外漏，讓測(cè)試人員安全放心使用；
儀器技術(shù)指標(biāo)：
1、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測(cè)試對(duì)象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99
4、同時(shí)分析元素：幾十種元素同時(shí)分析
5、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
6、相互的基體效應(yīng)校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃
10、工作濕度：≤70
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測(cè)量時(shí)間 10-200S可以調(diào)

儀器配置：
1、探測(cè)模塊：Si-PIN
2、X射線源：40kV、100uA
3、準(zhǔn)直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動(dòng)切換
4、濾光片：內(nèi)置Al Ti Cu
5、樣品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，軟件安裝在Microsoft Windows CE系統(tǒng)操作靈活簡(jiǎn)單，很好的支持PDA系統(tǒng)升級(jí)和軟件升級(jí)
7、指示和警告：電源指示燈，輻射警告燈
8、保護(hù)系統(tǒng)：上蓋打開時(shí)，高壓自動(dòng)關(guān)閉
9、樣品放置：配萬向測(cè)試支架，隨心放置各種樣品
10、報(bào)告輸出：藍(lán)牙打印
11、安全防護(hù)箱：400*300*350mm，4.5kg

應(yīng)用領(lǐng)域
主要應(yīng)用黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
國(guó)產(chǎn)xrf光譜儀介紹

EDX4500 國(guó)產(chǎn)X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國(guó)內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、材料中元素的快速、準(zhǔn)確分析。
該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率：采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

性能特點(diǎn)

專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99
同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
功能范圍：水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析
分析精度：0.05 （對(duì)含量96以上元素）
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測(cè)量時(shí)間：60s—200s
能量分辨率為：（±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA

標(biāo)準(zhǔn)配置
電制冷UHRD探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
的升降平臺(tái)
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器
外觀尺寸： 650×608×466 mm
樣品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到0CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去

測(cè)試高爐渣、生鐵、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、白云石、膨潤(rùn)土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應(yīng)用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。
本產(chǎn)品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)之上研發(fā)的新型高端測(cè)試儀，采用新一代探測(cè)器及多道技術(shù)，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，1秒出結(jié)果，準(zhǔn)確分析貴金屬含量。同時(shí)，具備二維平臺(tái)及高清工業(yè)攝像頭，實(shí)現(xiàn)樣品定位。（可對(duì)99.99黃金進(jìn)行有效分析）

性能特點(diǎn)

快,1秒鐘出結(jié)果
1、采用行業(yè)先進(jìn)的極速探測(cè)器技術(shù)——（SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢(shì)：探測(cè)面積大（面積達(dá)25m㎡）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好
對(duì)貴金屬的探測(cè)效率更高，探測(cè)信噪比更強(qiáng)，檢出限更低
2、采用行業(yè)先進(jìn)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢(shì)：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，保證采集有效計(jì)數(shù)率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及先進(jìn)的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：使貴金屬的激發(fā)效率更高
4、光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度

精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)

多點(diǎn)測(cè)試
2D全自動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試

超小樣品檢測(cè)——小可測(cè)到0.2毫米
8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇
準(zhǔn)直器小可達(dá)0.2毫米，針對(duì)超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測(cè)
可高效區(qū)分99.9及99.99黃金純度
可測(cè)量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

人性化的設(shè)計(jì)
更安全：X射線聯(lián)動(dòng)安全裝置----光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)
更快捷：多點(diǎn)測(cè)試，點(diǎn)哪測(cè)哪
預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時(shí)間，儀器可定時(shí)開始測(cè)試
預(yù)約開機(jī)預(yù)熱功能：客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時(shí)間，同時(shí)可以儀器預(yù)熱并自動(dòng)檢測(cè)、校正儀器狀態(tài)；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量元素范圍：硫(S)～鈾(U)
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm
元素含量分析范圍：2ppm～99.99
探測(cè)器：SDD探測(cè)器，分辨率可達(dá)125eV
管流：≤1000uA
管壓：5～50kV
測(cè)量時(shí)間：1s或以上(可調(diào))
濾光片：4種濾光片切換
準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70
環(huán)境溫度：15℃～30℃
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
輸入電壓：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器配置

SDD探測(cè)器
數(shù)字多道分析系統(tǒng)
X射線源
高低壓電源
準(zhǔn)直器濾光片系統(tǒng)
精密平臺(tái)
光閘系統(tǒng)
樣品觀測(cè)系統(tǒng)
更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果是天瑞人堅(jiān)持不懈的追求，同時(shí)天瑞人還時(shí)刻牢記為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。全新開發(fā)研制的EDX 9000正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用分析儀器行業(yè)先進(jìn)的極速探測(cè)器技術(shù)（X-SDD）可將測(cè)試時(shí)間降低到1秒。同時(shí)EDX 9000還采用了天瑞儀器專利產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試。新增加電動(dòng)開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計(jì)自動(dòng)樣品平臺(tái)讓準(zhǔn)確檢測(cè)得到保證。

性能優(yōu)勢(shì)

快—1秒鐘出結(jié)果
采用行業(yè)先進(jìn)的極速探測(cè)器技術(shù)——（X-SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢(shì)：探測(cè)面積大（面積達(dá)25mm2）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好，探測(cè)效率更高，探測(cè)信噪比更強(qiáng)，檢出限更低
采用行業(yè)先進(jìn)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢(shì)：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，保證采集有效計(jì)數(shù)率可達(dá)1000Wcps
采用大功率X光管及先進(jìn)的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：激發(fā)效率更高
光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢(shì)：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度
精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)
多點(diǎn)測(cè)試
2D全自動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試
超小樣品檢測(cè)——小可測(cè)到0.2毫米
8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇
準(zhǔn)直器小可達(dá)0.2毫米，針對(duì)超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測(cè)
人性化的設(shè)計(jì)
更安全：X射線聯(lián)動(dòng)安全裝置——光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)
更快捷：多點(diǎn)測(cè)試，點(diǎn)哪測(cè)哪
預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時(shí)間，儀器可定時(shí)開始測(cè)試
預(yù)約開機(jī)預(yù)熱功能：客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時(shí)間，同時(shí)可以儀器預(yù)熱并自動(dòng)檢測(cè)、校正儀器狀態(tài)；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，
關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測(cè)量時(shí)間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩(wěn)定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測(cè)器：X-SDD探測(cè)器，分辨率可達(dá)125eV
準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
濾光片：4種濾光片切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70
環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

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