正是由于各個行業(yè)對XRF的不同需求，導(dǎo)致了XRF儀器從“單一”走向“專一”。比如應(yīng)用于糧食行業(yè)重金屬檢測的XRF，雖然需要測試的元素與RoHS檢測的元素一致，但其要求精度更高，因此無法使用RoHS檢測儀去檢測糧食中的重金屬元素。所以，在天瑞儀器2010年上市后，針對各個行業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域，開發(fā)了不同型號的產(chǎn)品，截止目前，天瑞儀器的XRF產(chǎn)品已達幾十種，每個領(lǐng)域幾乎都開發(fā)了二到三款產(chǎn)品，覆蓋低、中、高端，可供該行業(yè)的客戶選擇。
分析檢出限可達ppm
分析含量一般為ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV

正是由于各個行業(yè)對XRF的不同需求，導(dǎo)致了XRF儀器從“單一”走向“專一”。比如應(yīng)用于糧食行業(yè)重金屬檢測的XRF，雖然需要測試的元素與RoHS檢測的元素一致，但其要求精度更高，因此無法使用RoHS檢測儀去檢測糧食中的重金屬元素。所以，在天瑞儀器2010年上市后，針對各個行業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域，開發(fā)了不同型號的產(chǎn)品，截止目前，天瑞儀器的XRF產(chǎn)品已達幾十種，每個領(lǐng)域幾乎都開發(fā)了二到三款產(chǎn)品，覆蓋低、中、高端，可供該行業(yè)的客戶選擇。例如在RoHS行業(yè)中，天瑞儀器就研制了EDX1800B、EDX1800BS、EDX1800E、 EDX1800BH、EDX4800H等型號，還有便攜式的EXPLORER3000型可用于原位查驗；在貴金屬行業(yè)中公司有EDX600 PLUS、EDX3000、EDX3000 PLUS、EDX6800等產(chǎn)品；而糧食行業(yè)中天瑞儀器也開發(fā)了EDX3200S PLUS、EDX3200S PLUS C、EDXX3200S PLUS D、 EDXX3200S PLUS X等型號；不僅如此，公司還研發(fā)了應(yīng)用于地礦行業(yè)的EDX3600H系列、應(yīng)用于石油石化行業(yè)的EDX5500H系列、針對電渡行業(yè)的THick600系列、應(yīng)用于環(huán)境土壤行業(yè)的EXPLORER9000系列等；還有應(yīng)用于水泥和耐材等行業(yè)的波散XRF，從固定道的WDX200、WDX400擴展到了順序道的WDX4000等，以及應(yīng)用于其他行業(yè)的儀器等。

XRF
XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級 X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應(yīng)用中，有效的元素測量范圍為9號元素 （F）到92號元素（U）。
原理
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內(nèi)的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。
X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內(nèi)層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出的電子會導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。
波長
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：λ=K(Z? s) ?2式中K和S是常數(shù)。
能量
而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光子具有的能量為：
E=hν=h C/λ
式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。
因此，只要測出熒光X射線的波長或者能量，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外，熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進行元素定量分析。
分類
不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關(guān)，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。
因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：
波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)


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