產(chǎn)品型號：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
XRF光譜儀比前幾代更小、更靈敏、用戶使用更方便
XRF光譜儀其靈敏度比之前的版本高出四倍。該儀器覆蓋從氟到鈾的所有周期表元素，增強了靈敏度和靈活性以更好獲得樣品的全部元素組成。
XRF光譜儀包含50Wx射線管和新一代硅漂移檢測器（SDD），可進行光元素和小斑點分析。該儀器比其前身需要更少的實驗室空間，還能適應(yīng)XRF分析中使用的常規(guī)大小、以及大型和不規(guī)則形狀的樣品。
XRF光譜儀能分析從石油化工、采礦和水泥到法醫(yī)，寶石學(xué)和環(huán)境控制各種應(yīng)用的材料特性。
光譜儀的優(yōu)點包括：
·可用于Windows10的WinTrace軟件，為用戶提供更加的界面，可以輕松地將結(jié)果導(dǎo)出到外部計算機或LIMS；
·通過程序進行無標準分析，可進行小至1mm的小點分析；
·大型樣品室，允許儀器接受不規(guī)則形狀的樣品，長度范圍為0.5厘米至40厘米，高度至5厘米，甚至還有30x40x36厘米樣品的樣品室可選。
采用高分辨率SDD或者Sipin探測器，可準確無誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳等元素的含量，同時還可以測試鎘和鉛等有害物質(zhì)。測試結(jié)果完全符合國標GB/T 18043-2013要求。
、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測試對象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99
4、同時分析元素：幾十種元素同時分析
5、任意多個可選擇的分析和識別模型
6、相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測量重復(fù)性可達：0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃
10、工作濕度：≤70
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：150*150*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測量時間 10-200S可以調(diào)
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
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