ICP測試儀和XRF測試儀哪個(gè)更適合?選ICP測試儀還是XRF測試儀?這恐怕對于工作內(nèi)容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實(shí)驗(yàn)員來說，是很容易出現(xiàn)的疑問了。如果從購置價(jià)格、使用成本和方便程度、分析結(jié)果可靠性等幾個(gè)方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測試儀除了被用來進(jìn)行材料表面的定性檢測，可用來測量元素的總含量嗎?準(zhǔn)確嗎?ICP測試儀檢測是僅僅對元素進(jìn)行表面定性分析嗎?它跟XRF測試儀有什么區(qū)別?針對這些疑問，看看七嘴八舌的們?nèi)绾握f?你挺誰?XRF測試儀不但在元素定性上有ICP測試儀無可比擬的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關(guān))。所以這條上應(yīng)該是XRF測試儀和ICP測試儀都可以定量。A：XRF測試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測試儀，樣品需要進(jìn)行化學(xué)處理為溶液。對于XRF測試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應(yīng)會(huì)比較嚴(yán)重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機(jī)官能團(tuán)定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測試儀定量較為簡單實(shí)在，易于操作。XRF測試儀做標(biāo)樣和樣品處理需要配套的制樣設(shè)備，包括壓片機(jī)和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測試儀不能定量的結(jié)論，相對于測純金屬、合金含量分析，我認(rèn)為XRF測試儀是比ICP測試儀更合適!我們實(shí)驗(yàn)室就是把XRF測試儀+ICP測試儀配合起來用，利用XRF測試儀定性優(yōu)勢配合ICP測試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個(gè)要看你的待測組分的含量和你的測試要求了，畢竟這兩臺(tái)儀器的各有各的優(yōu)勢和缺點(diǎn)。我建議買一臺(tái)EDXRF測試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測試前做一次心里有個(gè)底，找個(gè)靠譜的通過CNAS認(rèn)證的實(shí)驗(yàn)室做一下，基本問題不會(huì)很大，真的要購買儀器的話這個(gè)真心沒有底。有的公司就為了測催化劑中的氯買了一臺(tái)40W美元的WDXRF測試儀。D：請果斷選擇ICP測試儀，雖然價(jià)格和使用程度上來說相對困難，但是結(jié)果可靠性比XRF測試儀高出光年倍。E：XRF測試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結(jié)果沒有ICP測試儀好，就算有標(biāo)樣進(jìn)行校正也存在誤差;但是ICP測試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測液體中的金屬離子含量用ICP測試儀當(dāng)然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會(huì)增大，這個(gè)要看你要求的測量精度了!G：都很準(zhǔn)的啊，但看具體元素了，一般XRF測試儀主要測固體粉末，ICP測試儀測能溶的固體和液體!H：XRF測試儀是檢測物質(zhì)中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測試儀一般應(yīng)用于溶液中化合物離子的含量分析。多數(shù)認(rèn)為XRF測試儀在表面化學(xué)分析方面很準(zhǔn)，但是必須購買對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)品，用來繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。此外，XRF測試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結(jié)果的準(zhǔn)確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測試儀測溶液中的PPM級的元素含量。如果保證操作得當(dāng)、曲線配置好的話，結(jié)果也會(huì)相當(dāng)準(zhǔn)。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點(diǎn)，您應(yīng)該知道自己在面對ICP測試儀和XRF測試儀時(shí)該選擇哪種方法了吧!
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測試、合金牌號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
性能特點(diǎn):
高效超薄窗X光管
針對合金的測試而開發(fā)的配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
XRF分析儀器是利用X射線無損檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際先進(jìn)水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時(shí)間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
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