儀器技術(shù)指標(biāo)：
1、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測試對象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99 
4、同時分析元素：幾十種元素同時分析
5、任意多個可選擇的分析和識別模型
6、相互的基體效應(yīng)校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測量重復(fù)性可達：0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃  
10、工作濕度：≤70  
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測量時間 10-200S可以調(diào)

儀器配置：
1、探測模塊：Si-PIN
2、X射線源：40kV、100uA
3、準(zhǔn)直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動切換
4、濾光片：內(nèi)置Al Ti Cu
5、樣品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，軟件安裝在Microsoft Windows CE系統(tǒng)操作靈活簡單，很好的支持PDA系統(tǒng)升級和軟件升級
7、指示和警告：電源指示燈，輻射警告燈
8、保護系統(tǒng)：上蓋打開時，高壓自動關(guān)閉
9、樣品放置：配萬向測試支架，隨心放置各種樣品
10、報告輸出：藍牙打印
11、安全防護箱：400*300*350mm，4.5kg

應(yīng)用領(lǐng)域
主要應(yīng)用黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準(zhǔn)確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm

本產(chǎn)品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗基礎(chǔ)之上研發(fā)的新型高端測試儀，采用新一代探測器及多道技術(shù)，實現(xiàn)超高計數(shù)率，1秒出結(jié)果，準(zhǔn)確分析貴金屬含量。同時，具備二維平臺及高清工業(yè)攝像頭，實現(xiàn)樣品定位。（可對99.99黃金進行有效分析）

性能特點

快,1秒鐘出結(jié)果
1、采用行業(yè)先進的極速探測器技術(shù)——（SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達25m㎡）、單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
2、采用行業(yè)先進的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，保證采集有效計數(shù)率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及先進的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢：使貴金屬的激發(fā)效率更高
4、光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度

精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點

多點測試
2D全自動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試

超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進行選擇
準(zhǔn)直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測
可高效區(qū)分99.9及99.99黃金純度
可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

人性化的設(shè)計
更安全：X射線聯(lián)動安全裝置----光閘與聯(lián)動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時間，儀器可定時開始測試
預(yù)約開機預(yù)熱功能：客戶可預(yù)約儀器開機時間，同時可以儀器預(yù)熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實現(xiàn)預(yù)約關(guān)機，關(guān)機前可設(shè)定聲光提示

技術(shù)參數(shù)

測量元素范圍：硫(S)～鈾(U)
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
元素含量分析范圍：2ppm～99.99
探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV
管流：≤1000uA
管壓：5～50kV
測量時間：1s或以上(可調(diào))
濾光片：4種濾光片切換
準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70
環(huán)境溫度：15℃～30℃
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
輸入電壓：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器配置

SDD探測器
數(shù)字多道分析系統(tǒng)
X射線源
高低壓電源
準(zhǔn)直器濾光片系統(tǒng)
精密平臺
光閘系統(tǒng)
樣品觀測系統(tǒng)

ICP測試儀和XRF測試儀哪個更適合?選ICP測試儀還是XRF測試儀?這恐怕對于工作內(nèi)容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實驗員來說，是很容易出現(xiàn)的疑問了。如果從購置價格、使用成本和方便程度、分析結(jié)果可靠性等幾個方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測試儀除了被用來進行材料表面的定性檢測，可用來測量元素的總含量嗎?準(zhǔn)確嗎?ICP測試儀檢測是僅僅對元素進行表面定性分析嗎?它跟XRF測試儀有什么區(qū)別?針對這些疑問，看看七嘴八舌的們?nèi)绾握f?你挺誰?XRF測試儀不但在元素定性上有ICP測試儀無可比擬的優(yōu)點，同時在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關(guān))。所以這條上應(yīng)該是XRF測試儀和ICP測試儀都可以定量。A：XRF測試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測試儀，樣品需要進行化學(xué)處理為溶液。對于XRF測試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應(yīng)會比較嚴(yán)重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機官能團定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測試儀定量較為簡單實在，易于操作。XRF測試儀做標(biāo)樣和樣品處理需要配套的制樣設(shè)備，包括壓片機和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測試儀不能定量的結(jié)論，相對于測純金屬、合金含量分析，我認為XRF測試儀是比ICP測試儀更合適!我們實驗室就是把XRF測試儀+ICP測試儀配合起來用，利用XRF測試儀定性優(yōu)勢配合ICP測試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個要看你的待測組分的含量和你的測試要求了，畢竟這兩臺儀器的各有各的優(yōu)勢和缺點。我建議買一臺EDXRF測試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測試前做一次心里有個底，找個靠譜的通過CNAS認證的實驗室做一下，基本問題不會很大，真的要購買儀器的話這個真心沒有底。有的公司就為了測催化劑中的氯買了一臺40W美元的WDXRF測試儀。D：請果斷選擇ICP測試儀，雖然價格和使用程度上來說相對困難，但是結(jié)果可靠性比XRF測試儀高出光年倍。E：XRF測試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結(jié)果沒有ICP測試儀好，就算有標(biāo)樣進行校正也存在誤差;但是ICP測試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測液體中的金屬離子含量用ICP測試儀當(dāng)然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會增大，這個要看你要求的測量精度了!G：都很準(zhǔn)的啊，但看具體元素了，一般XRF測試儀主要測固體粉末，ICP測試儀測能溶的固體和液體!H：XRF測試儀是檢測物質(zhì)中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測試儀一般應(yīng)用于溶液中化合物離子的含量分析。多數(shù)認為XRF測試儀在表面化學(xué)分析方面很準(zhǔn)，但是必須購買對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)品，用來繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。此外，XRF測試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結(jié)果的準(zhǔn)確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測試儀測溶液中的PPM級的元素含量。如果保證操作得當(dāng)、曲線配置好的話，結(jié)果也會相當(dāng)準(zhǔn)。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點，您應(yīng)該知道自己在面對ICP測試儀和XRF測試儀時該選擇哪種方法了吧!
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