膜厚儀電渦流測量原理
高頻交流在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，的頻率不同，的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1，量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

X射線膜厚儀，涂鍍層測厚介紹
X射線膜厚儀，涂鍍層測厚服務電話江蘇天瑞儀器股份有限公司專業(yè)生產(chǎn)X射線膜厚儀，涂鍍層測厚解決厚度測試。性能特點
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，鼠標可控制平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，良好的射線屏蔽作用，技術指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
分析含量一般為ppm到99.9 。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
多變量非線性回收程序
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
標準配置
精密二維樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維。
鉛玻璃屏蔽罩。
檢測電子電路。
X光管。
保護傳感器
應用領域
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
<n font-size:14px;color:#414141;line-height:22px;background-color:#ffffff;"="">主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產(chǎn)權的高科技企業(yè)，注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質(zhì)譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限

售后服務：
公司本著“客戶至上、高效快捷、誠信務實、價格合理"的經(jīng)營合作理念,為您提供快速優(yōu)質(zhì)的技術服務。產(chǎn)品送貨，培訓安裝，耗材配件，實驗室打包解決方案。
專業(yè)的400售后維修，7*24小時在線，4小時響應，24小時。

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X射線熒光鍍層測厚儀Thick800A可全自動軟件操作，可多點測試
技術指標
型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探測器。
檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。
Thick800A金屬測厚儀比其他品牌優(yōu)勢：
 
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

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膜厚儀磁感應測量原理
采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該放大后來指示覆層厚度。一些電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g，利用磁阻來調(diào)制測量。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1，量程達10mm。
磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
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