直讀光譜儀OES6000采用CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),可測(cè)試覆蓋波長(zhǎng)范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES6000專注于有色金屬測(cè)試，是有色金屬材料元素測(cè)試的理想儀器。
全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置
儀器體積小巧，對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過程少于30秒
儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便，對(duì)人員要求低
原廠安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)，適用合齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過程安全、環(huán)保

技術(shù)性能及參數(shù)

1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)
恒溫控制（34℃±0.5℃）
材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600 l/mm
一級(jí)光譜線色散率：1.2 nm/mm
波長(zhǎng)范圍200-500nm
3.檢測(cè)器
高性能線陣CCD
4.分析時(shí)間
依樣品種類而不同，一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺(tái)
4mm樣品臺(tái)分析間隙
噴射電極技術(shù)
無待機(jī)流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高300mm 長(zhǎng) 500mm 寬 450mm
30 kg
8.功率
功率700 W
待機(jī)功率40 W

工作條件

工作溫度：15-30℃
相對(duì)濕度：≤70
電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實(shí)驗(yàn)室無震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

設(shè)備

高純氬氣——純度99.999以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

無需抽真空的光室
直讀光譜儀OES6000采用空氣光室設(shè)計(jì)，剔除真空泵。光室完全無油污污染源，儀器性能更穩(wěn)定；維護(hù)更方便，無真空泵運(yùn)行消耗電力。
全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素
基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。
配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。
的測(cè)試方案
長(zhǎng)期測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測(cè)試方案。
測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測(cè)試需求。
分析程序由原廠采用國(guó)際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購(gòu)買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
國(guó)際供應(yīng)商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測(cè)器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲
光學(xué)鏡片——德國(guó)Zeiss制造，光纖——美國(guó)Agilent制造
的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。

應(yīng)用領(lǐng)域

金屬材料元素含量測(cè)試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機(jī)械行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)控制、質(zhì)量檢驗(yàn)等相關(guān)工作的傳統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時(shí)測(cè)試幾十種分析元素, 滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀測(cè)試金屬材料元素含量便捷、環(huán)保、低成本，使研發(fā)、生產(chǎn)的過程和質(zhì)量更可控，幫助用戶提升產(chǎn)品的技術(shù)、質(zhì)量水平；同時(shí)加速相關(guān)流程，為用戶創(chuàng)造明顯的經(jīng)濟(jì)效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術(shù)和質(zhì)量水平的標(biāo)志性設(shè)備。

吸收光譜是根據(jù)待測(cè)元素的特征光譜，通過樣品蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子吸收被測(cè)元素的光譜后被減弱的強(qiáng)度計(jì)算其含量。它符合郎珀-比爾定律：A= -lg I/I o= -lgT = KCL

技術(shù)性能及指標(biāo)

1.   分光室設(shè)計(jì)

  帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm

  波長(zhǎng)范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

  間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運(yùn)行時(shí)間小于5

2.   凹面光柵

  刻線密度3600l/mm

  一級(jí)光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測(cè)器

  高性能線陣CMOS

4.   分析時(shí)間

  依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

  全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

  高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發(fā)臺(tái)

  3mm樣品臺(tái)分析間隙

  噴射電極技術(shù)

  設(shè)計(jì)的氣路系統(tǒng)，保證氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長(zhǎng)900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  功率0W

  待機(jī)功率70W

1.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)
光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)采用的全息平場(chǎng)凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術(shù)的線性CCD陣列探測(cè)器組成。并采用控制雜散光技術(shù)、精密陣列探測(cè)器電子驅(qū)動(dòng)技術(shù)和寬動(dòng)態(tài)線性技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)達(dá)到雜散低、動(dòng)態(tài)范圍寬、毫秒級(jí)的測(cè)試速度及傳統(tǒng)機(jī)械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)組成

CMS光譜分析儀（輻射計(jì)）、積分球、精密交直流電源、校準(zhǔn)定標(biāo)系統(tǒng)及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)參考標(biāo)準(zhǔn)（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數(shù)測(cè)量部分標(biāo)準(zhǔn)）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)：  

色品坐標(biāo)（x,y）、相關(guān)色溫、光通量、光效、能效指數(shù)（EEI）、能效等級(jí)、顯色指數(shù)、顏色質(zhì)量量表、色品坐標(biāo)（u,v）、色品坐標(biāo)（u`,v`）、主波長(zhǎng)、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數(shù)等參數(shù)。
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