1.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)
光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)采用的全息平場凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術(shù)的線性CCD陣列探測器組成。并采用控制雜散光技術(shù)、精密陣列探測器電子驅(qū)動技術(shù)和寬動態(tài)線性技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)達(dá)到雜散低、動態(tài)范圍寬、毫秒級的測試速度及傳統(tǒng)機(jī)械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)組成

CMS光譜分析儀（輻射計(jì)）、積分球、精密交直流電源、校準(zhǔn)定標(biāo)系統(tǒng)及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)參考標(biāo)準(zhǔn)（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數(shù)測量部分標(biāo)準(zhǔn)）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)測量參數(shù)：  

色品坐標(biāo)（x,y）、相關(guān)色溫、光通量、光效、能效指數(shù)（EEI）、能效等級、顯色指數(shù)、顏色質(zhì)量量表、色品坐標(biāo)（u,v）、色品坐標(biāo)（u`,v`）、主波長、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數(shù)等參數(shù)。

當(dāng)原子從較高能級躍遷到基態(tài)或其它較低的能級的過程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去的，其輻射的能量可用下式表示：（1）E2、E1分別為高能級、低能級的能量，h為普朗克（Planck）常數(shù)；v及λ分別為所發(fā)射電磁波的頻率及波長，c為光在真空中的速度。

近紅外光譜分析儀產(chǎn)品簡介

近紅外光譜分析儀采用全息數(shù)字式光柵和高靈敏度銦鎵檢測器（TEC制冷恒溫）相結(jié)合的光學(xué)設(shè)計(jì)，基于漫反射方式進(jìn)行樣品分析，波長范圍覆蓋1000-2500nm。通過外置電腦和RIMP軟件實(shí)現(xiàn)固體顆粒、片狀、粉末樣品中一些物理和化學(xué)成分的無損快速檢測。近紅外光譜分析儀整套系統(tǒng)操作簡單，只需要將樣品盤放在樣品臺上，點(diǎn)擊測量，儀器自動完成測量分析。近紅外光譜分析儀在飼料生產(chǎn)、糧油加工、谷物收購、育種研究等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

近紅外光譜分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)
操作簡單，無需培訓(xùn)，無需樣品前處理，不破壞樣品。
分析速度快，一分鐘內(nèi)同時(shí)檢測出多個(gè)指標(biāo)，如水分、脂肪、蛋白、纖維、灰分、等指標(biāo)。
適合多種樣品形式，如顆粒、片狀和粉末，并且裝樣簡單、方便。
采用的光柵掃描光譜技術(shù)和銦鎵檢測器，保證儀器穩(wěn)定性和更好的信噪比。
旋轉(zhuǎn)樣品盤測樣方式，可增強(qiáng)不均勻樣品的代表性、提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
儀器內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，具有自動診斷和故障提示功能。
光源采用自準(zhǔn)直模塊設(shè)計(jì)，無需調(diào)節(jié)，輕松實(shí)現(xiàn)光源更換。
多臺儀器間能夠進(jìn)行良好的模型傳遞。
全中文界面，操作簡單及將儀器操作、建模和數(shù)據(jù)處理整合一體的軟件。
支持網(wǎng)絡(luò)連接功能，方便儀器日常維護(hù)和模型升級服務(wù)。
 
旋轉(zhuǎn)樣品盤設(shè)計(jì)—檢測更 光源更換操作簡便快捷
應(yīng)用領(lǐng)域
飼料行業(yè)  油脂加工 谷物交易 育種研究

采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優(yōu)選擇。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補(bǔ)充配置

儀器體積小巧，對實(shí)驗(yàn)室空間要求低

全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護(hù)簡單、方便，對人員要求低

原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)，適用合齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)保

 

技術(shù)優(yōu)勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測試。

配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序。

 

國際供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

 

光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除維護(hù)，平時(shí)保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡。

同時(shí)檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。

 

快速同時(shí)分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結(jié)果。

可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

 

的測試方案

長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

 

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實(shí)驗(yàn)室無震動、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體
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