直讀光譜儀OES6000采用CCD檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實驗室放置。OES6000專注于有色金屬測試，是有色金屬材料元素測試的理想儀器。
全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補(bǔ)充配置
儀器體積小巧，對實驗室空間要求低
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測試速度快，單次測試過程少于30秒
儀器使用和維護(hù)簡單、方便，對人員要求低
原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)，適用合齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)保

技術(shù)性能及參數(shù)

1.分光室設(shè)計
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)
恒溫控制（34℃±0.5℃）
材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600 l/mm
一級光譜線色散率：1.2 nm/mm
波長范圍200-500nm
3.檢測器
高性能線陣CCD
4.分析時間
依樣品種類而不同，一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺
4mm樣品臺分析間隙
噴射電極技術(shù)
無待機(jī)流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高300mm 長 500mm 寬 450mm
30 kg
8.功率
功率700 W
待機(jī)功率40 W

工作條件

工作溫度：15-30℃
相對濕度：≤70
電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實驗室無震動、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

設(shè)備

高純氬氣——純度99.999以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調(diào)——依實驗室面積配置匹配功率

技術(shù)優(yōu)勢

無需抽真空的光室
直讀光譜儀OES6000采用空氣光室設(shè)計，剔除真空泵。光室完全無油污污染源，儀器性能更穩(wěn)定；維護(hù)更方便，無真空泵運(yùn)行消耗電力。
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。
配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序。
的測試方案
長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。
分析程序由原廠采用國際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
國際供應(yīng)商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲
光學(xué)鏡片——德國Zeiss制造，光纖——美國Agilent制造
的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。

應(yīng)用領(lǐng)域

金屬材料元素含量測試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機(jī)械行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)控制、質(zhì)量檢驗等相關(guān)工作的傳統(tǒng)測試項目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時測試幾十種分析元素, 滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗、產(chǎn)品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀測試金屬材料元素含量便捷、環(huán)保、低成本，使研發(fā)、生產(chǎn)的過程和質(zhì)量更可控，幫助用戶提升產(chǎn)品的技術(shù)、質(zhì)量水平；同時加速相關(guān)流程，為用戶創(chuàng)造明顯的經(jīng)濟(jì)效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術(shù)和質(zhì)量水平的標(biāo)志性設(shè)備。

原子發(fā)射光譜分析是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來測定物質(zhì)的化學(xué)組分的。不同物質(zhì)由不同元素的原子所組成，而原子都包含著一個結(jié)構(gòu)緊密的原子核，核繞著不斷運(yùn)動的電子。每個電子處于一定的能級上，具有一定的能量。在正常的情況下，原子處于穩(wěn)定狀態(tài)，它的能量是的，這種狀態(tài)稱為基態(tài)。但當(dāng)原子受到能量（如熱能、電能等）的作用時，原子由于與高速運(yùn)動的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量，使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級上，處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位，當(dāng)外加的能量足夠大時，原子中的電子脫離原子核的束縛力，使原子成為離子，這種過程稱為電離。原子失去一個電子成為離子時所需要的能量稱為一級電離電位。離子中的外層電子也能被激發(fā)，其所需的能量即為相應(yīng)離子的激發(fā)電位。處于激發(fā)態(tài)的原子是十分不穩(wěn)定的，在極短的時間內(nèi)便躍遷至基態(tài)或其它較低的能級上。

光譜分析儀工作原理
光譜分析儀，是一種用于測量發(fā)光體的輻射光譜，即發(fā)光體本身的指標(biāo)參數(shù)的儀器。光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測元素的含量，它符合郎珀-比爾定律A=-lgI/Io=-LgT=KCL式中I為透射光強(qiáng)度，I0為發(fā)射光強(qiáng)度，T為透射比，L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。
光譜分析儀物理原理
任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級(E0=0)，其余能級稱為激發(fā)態(tài)能級，而能的激發(fā)態(tài)則稱為激發(fā)態(tài)。正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量的軌道上運(yùn)動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)，而產(chǎn)生原子吸收光譜。

光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測元素的含量。


任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量低的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級（E0=0），其余能級稱為激發(fā)態(tài)能級，而能低的激發(fā)態(tài)則稱為激發(fā)態(tài)。正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量低的軌道上運(yùn)動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)，而產(chǎn)生原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發(fā)態(tài)，但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的，大約經(jīng)過10^-8秒以后，激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程稱原子發(fā)射光譜?？梢娫游展庾V過程吸收輻射能量，而原子發(fā)射光譜過程則釋放輻射能量。
光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強(qiáng)度又與試樣中該元素的含量有關(guān)，因此又可利用這些譜線的強(qiáng)度來測定元素的含量(定量分析)。這就是發(fā)射光譜分析的基本依據(jù)。
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