滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

2、性能優(yōu)勢

精密的三維平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別 
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動切換
雙重保護(hù)措施，實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機(jī)自動退出自檢、復(fù)位 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結(jié)果

3、技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達(dá)五層鍍層
檢出限：可達(dá)2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9 
鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1
穩(wěn)定性：可達(dá)0.1
SDD探測器：分辨率低至eV
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù)，小孔徑達(dá)0.1mm，小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90
操作環(huán)境溫度 15℃～30℃

鍍鋅板是指表面鍍有一層鋅的鋼板。全世界鋅產(chǎn)量的一半左右均用于此種工藝，特別是汽車產(chǎn)品，鍍鋅板廣泛應(yīng)用于乘用車白車身、底盤金屬件。鍍鋅鋼板是為防止鋼板表面遭受腐蝕，延長其使用壽命，在鋼板表面涂以一層金屬鋅，這種涂鋅的薄鋼板稱為鍍鋅板Thick 800A是天瑞集多年的經(jīng)驗，研發(fā)用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及平臺。是功能強(qiáng)大的儀器，配上為其開發(fā)的軟件，在汽車涂覆層測厚中可謂大展身手。

性能優(yōu)勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求 
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求 
高精度平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度 
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊 
鼠標(biāo)可控制平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點 
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加 
良好的射線屏蔽作用 
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：硫（S）～ 鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，5層鍍層 
檢出限：可達(dá)2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：2ppm～99.9
鍍層厚度：50μm以內(nèi)（每種材料有所不同） 
任意多個可選擇的分析和識別模型 
相互的基體效應(yīng)校正模型 
多變量非線性回收程序 
重復(fù)性：可達(dá)0.1
穩(wěn)定性：可達(dá)0.1
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源 
外觀尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg

儀器配置

開放式樣品腔 
精密二維樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維 
雙激光定位裝置 
鉛玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探測器 
檢測電子電路 
高低壓電源 
X光管 
高度傳感器 
保護(hù)傳感器 
計算機(jī)及噴墨打印機(jī)

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
測量注意事項：
⒈在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

此次天瑞儀器授牌為商業(yè)秘密保護(hù)示范點，將有效地加大公司商業(yè)秘密保護(hù)力度，切實保護(hù)公司商業(yè)秘密核心知識產(chǎn)權(quán)，更好的推動公司的創(chuàng)新發(fā)展。今后，天瑞也將發(fā)揮出示范作用，配合，推進(jìn)更多示范點建設(shè)，共同做好商業(yè)秘密保護(hù)工作。
2013年4月19日，天瑞連續(xù)第五年蟬聯(lián)“具影響力廠商”，EDX-P730手持式X熒光光譜儀蟬聯(lián)“年度受關(guān)注儀器”。
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