黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
天瑞儀器一直以來(lái)都是以客戶需求為出發(fā)點(diǎn)，解決客戶的后顧之憂。通過(guò)此次會(huì)議，不僅加強(qiáng)了多方聯(lián)系，獲得面對(duì)面交流的機(jī)會(huì)，同時(shí)也提高了用戶的操作水平，解決了用戶在日常操作中遇到的問(wèn)題，幫助用戶更好的使用儀器。

為了更好的服務(wù)客戶，保障用戶儀器的良好性能。2021年3月19日，由江蘇天瑞儀器股份有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)天瑞儀器）舉辦的客戶培訓(xùn)會(huì)議在浙江省寧波市陽(yáng)光豪生大酒店舉行。
      本次培訓(xùn)會(huì)采用理論知識(shí)與現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際操作相結(jié)合的形式，旨在提高用戶對(duì)天瑞儀器產(chǎn)品應(yīng)用操作及后期運(yùn)維的能力，讓大家在實(shí)際操作中得心應(yīng)手。來(lái)自浙江地區(qū)的近百位用戶積極參加?，F(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行培訓(xùn)的儀器有EDX1800B能量色散X熒光光譜儀、THICK800A X熒光鍍層測(cè)厚儀、GCMS6800氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、LC310液相色譜系統(tǒng)、OES8000S直讀光譜儀以及環(huán)境試驗(yàn)箱操作培訓(xùn)。
根據(jù)客戶實(shí)際需求，培訓(xùn)節(jié)奏緊湊且具針對(duì)性，天瑞儀器技術(shù)們通過(guò)精心授課，現(xiàn)場(chǎng)操作教習(xí)，為參會(huì)人員提供了的學(xué)習(xí)機(jī)會(huì)，使其能夠正確、的使用儀器。

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。

2、性能優(yōu)勢(shì)

精密的三維平臺(tái)
的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
的圖像識(shí)別 
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試精度
全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!
開(kāi)機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位 
開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測(cè)試平臺(tái)，方便放樣 
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦 
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn) 
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕，自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果

3、技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)五層鍍層
檢出限：可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9 
鍍層厚度：一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1
穩(wěn)定性：可達(dá)0.1
SDD探測(cè)器：分辨率低至eV
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù)，小孔徑達(dá)0.1mm，小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺(tái)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90
操作環(huán)境溫度 15℃～30℃
2013年，天瑞儀器控股廈門(mén)質(zhì)譜。
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