鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品詳細(xì)資料介紹，鍍層測(cè)厚儀配置和產(chǎn)品構(gòu)造請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品原理說明書和產(chǎn)品報(bào)價(jià)。微米級(jí)的金屬鍍層厚度分析通常用到x射線熒光分析技術(shù)，由原子外層電子躍遷所產(chǎn)生光譜能量叫x射線熒光，不同金屬的熒光光譜能級(jí)不同，從而有了成分分析和厚度分析的基礎(chǔ)。
鍍金鍍銀厚度測(cè)試儀產(chǎn)品的應(yīng)用介紹
一：仿真飾品：
K金、鍍金、鍍銀等首飾飾品稱為仿真飾品。
仿真飾品市場(chǎng)稂莠不齊，價(jià)格相對(duì)便宜、成分不明的飾品，經(jīng)常會(huì)發(fā)生情況，很多佩戴者對(duì)“鎳”“鉛中毒”等知之者并不多。
美國、歐盟等國家和地區(qū)，對(duì)仿真飾品產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)都有著嚴(yán)格的限定，特別是對(duì)兒童仿真飾品，美國消費(fèi)品安全會(huì)CPSC要求鉛含量小于 600ppm/kg，歐盟也對(duì)鎳含量有著嚴(yán)格的規(guī)定。
2007年1月至11月，美國消費(fèi)品安全協(xié)會(huì)累計(jì)要求召回中國產(chǎn)兒童飾品27次，共計(jì)582.02萬件，召回原因主要涉及鉛含量超標(biāo)。
2009年我國《仿真飾品中有害物質(zhì)的要求及檢測(cè)方法》標(biāo)準(zhǔn)草案通過審定并實(shí)施。


二：解決方案：
我公司針對(duì)《仿真飾品中有害物質(zhì)的要求及檢測(cè)方法》及美國、歐盟等國家和地區(qū)的限定，投入了大量的精力，為各生產(chǎn)廠家量身定做簡(jiǎn)單可行的解決方案：X熒光光譜儀檢測(cè)，能快速無損的對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)，并且只需要一臺(tái)設(shè)備就能完全滿足仿真飾品檢測(cè)要求。


三：適用儀器：
型號(hào)：Thick800A
性能特點(diǎn)：1. 采用天瑞專利技術(shù)――特的激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測(cè)系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測(cè)靈敏度（降低檢出限）；2. 具有現(xiàn)代化的外觀，結(jié)構(gòu)和色彩，上蓋電動(dòng)控制開關(guān)，更人性化；3. 準(zhǔn)直器，濾光片自動(dòng)切換，可適應(yīng)不同的樣品測(cè)試要求；4. 大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測(cè)量更靈活方便。5.配備功能齊全的測(cè)試軟件。


仿真飾品行業(yè)的應(yīng)用實(shí)例
金屬(銅合金鍍金)中Pb的測(cè)試


1、測(cè)量參數(shù)


靶材：Zr靶
測(cè)量條件：45kV/600uA
測(cè)試時(shí)間：200s
標(biāo)樣：鎳白銅313(Pb：60ppm)
測(cè)試圖譜
下圖實(shí)譜表示純銅rc101（Pb，0ppm）即本底、紅色虛譜為 鎳白銅313(Pb：60ppm)


2、測(cè)試數(shù)據(jù)


本底多次測(cè)量的平均值及相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差：


下圖表示為鎳白銅中Pb的工作曲線： 


工作曲線的斜率：tan0.21=0.0036
鎳白銅313(Pb：60ppm)中Pb檢出限：(3×0.013)/ 0.0036 (工作曲線斜率)
=10.8ppm



測(cè)試數(shù)據(jù)：



鍍金鍍銀厚度測(cè)試儀產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)


技術(shù)指標(biāo)


型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

X射線膜厚儀能夠在幾十秒的時(shí)間實(shí)現(xiàn)金屬電鍍層的厚度檢測(cè)，比傳統(tǒng)的電解式測(cè)厚儀具有更好的測(cè)試效率和分析精度，目前已經(jīng)成為電鍍加工企業(yè)，首飾加工行業(yè)，PCB電路板工業(yè)，五金件加工，緊固件表面，汽車部件廠家，通信連接件等生產(chǎn)企業(yè)，解決膜厚測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)分析方法。


X射線膜厚儀圖片：



技術(shù)指標(biāo)：


X射線光管：


管壓：5-50kV


管流：0-1mA


靶材：W靶


窗口：鈹窗


制冷方式：風(fēng)冷


工作溫度：≤75℃




高壓發(fā)生器：


輸入電壓：24V


輸入大電流：5A


管壓：0-50kV


管流：0-2mA


燈絲大電壓：5V


燈絲大電流：3.5A




SDD半導(dǎo)體探測(cè)器：  


探測(cè)器輸入電壓：±12V，+5V


探頭窗口面積：25mm2


探頭窗口厚度：0.5mil


分辨率：140±5eV


探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃




自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)：


通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器


實(shí)現(xiàn)樣品高度的自動(dòng)對(duì)焦。




MCA多道分析器：


輸入電壓：±12V，+5V


采樣頻率：100 KHZ


脈沖幅度：0-7.6V


A/D位數(shù)：12位


分析道數(shù)：2048道




準(zhǔn)直器系統(tǒng)：


準(zhǔn)直器：Ø0.1 mm(可根據(jù)要求選配)


濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)




高清晰攝像頭： 


傳感器類型：CCD（彩色）


接口：USB2.0


傳感器廠商：索尼


快門類型：面陣


光學(xué)尺寸：1/4英寸


有效像素：659(H)×494（V）


有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)


像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：


感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）


顏色排列：RGB


幀率：30fps


快門速度：1/1538-1/30（秒）




儀器尺寸：


外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，


測(cè)試時(shí)，可開蓋，對(duì)樣品長度無限制


檢測(cè)開槽口時(shí)，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。


樣品臺(tái)尺寸：230(W)×210(D)mm


移動(dòng)范圍：50(X)mm， 50(Y)mm


Z軸升降平臺(tái)升降范圍：0-140mm




X射線膜厚儀能滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求。高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度，定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊。鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)。高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)。良好的射線屏蔽作用，測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。








江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)能量色散X射線膜厚儀的高科技公司，成立于1992年，是國內(nèi)在創(chuàng)業(yè)板上市的家高科技分析儀器公司。主營產(chǎn)品X射線膜厚儀thick800a曾于2011年榮獲科學(xué)儀器產(chǎn)品獎(jiǎng)， 產(chǎn)品符合國家計(jì)量合格要求。提供完善的售后服務(wù)：


1，所出售本合同所規(guī)定的儀器進(jìn)行維修，免費(fèi)提供升級(jí)軟件。
2，提供有效的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。
3，負(fù)責(zé)培訓(xùn)操作人員，培訓(xùn)內(nèi)容為儀器分析原理、結(jié)構(gòu)、操作、維護(hù)保養(yǎng)、簡(jiǎn)單維修、軟件使用、方法建立、樣品測(cè)試等。

天瑞儀器有限公司生產(chǎn)的XRF鍍層測(cè)厚儀在電鍍檢測(cè)行業(yè)中， 針對(duì)上述五項(xiàng)需求的應(yīng)用：
(1)、對(duì)鍍層膜厚檢測(cè)、電鍍液分析可分析；
(2)、對(duì)RoHS有害元素檢測(cè)、重金屬檢測(cè)、槽液雜質(zhì)檢測(cè)、水質(zhì)在線監(jiān)測(cè)可進(jìn)行快速檢測(cè)，檢測(cè)環(huán)境里的重金屬是否超標(biāo)。
同時(shí)具有以下特點(diǎn)
快速：1分鐘可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國際上的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無損：測(cè)試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示元素含量。
測(cè)試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。
可靠性高：由于測(cè)試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。
滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
性價(jià)比高：相比化學(xué)分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡(jiǎn)易：對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。

XRF測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。XRF測(cè)厚儀是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
開放式樣品腔。高精度二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器
保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
天瑞儀器作為一個(gè)集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設(shè)計(jì)、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務(wù)提供為一身的綜合性儀器供應(yīng)廠商，一直以來嚴(yán)格遵循“360°服務(wù)”的客戶服務(wù)理念，以提高顧客滿意度為根本目標(biāo)，從服務(wù)力量、服務(wù)流程、服務(wù)內(nèi)容等各個(gè)方面為客戶提供的服務(wù)。
    我公司為客戶提供技術(shù)咨詢、方案設(shè)計(jì)、技術(shù)交流、產(chǎn)品制造、系統(tǒng)集成、現(xiàn)場(chǎng)勘察、工程實(shí)施、技術(shù)培訓(xùn)、服務(wù)熱線、故障處理、、巡檢等全過程、、全系列的服務(wù)。這些不僅讓客戶體驗(yàn)到天瑞儀器高質(zhì)量的服務(wù)，更為客戶創(chuàng)造了更高的價(jià)值。
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