天瑞儀器edx1800b產品詳細技術資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產品報價和說明。一鍵式設計的xrf測試儀器被廣泛應用于rohs指令的有害物質含量測試和分析，無需化學前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測試手段。
x熒光光譜儀主要特點
1.檢測對象:液體/固體/粉末-固體樣品:點射配件-液體樣品:樣品池配件，適用于8mm瓶,NMR管和MP管 
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式：-重量輕-遠程控制-藍牙無線數(shù)據(jù)傳輸(或U)-電池可持續(xù)運作5小時-數(shù)據(jù)庫可無限擴充 
4.全球小的高性能光譜
5.120mW激發(fā)光源，功率可變
6.熒光成像可選
7.達到限衍射的成像和光譜
8.數(shù)據(jù)庫可無限擴展

工作原理
X熒光光譜ROHS檢測儀工作原理是由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將控測系統(tǒng)所收集的信息轉換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理，測試出待測產品的元素含量。

熒光光譜儀是一種波長較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺式x熒光光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質成分的定性和定量信息。
特征臺式x熒光光譜儀的產生與特性當用高能電子束照射樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加速度會產生寬帶的連續(xù)X射線譜，簡稱為連續(xù)潛或韌致。另一方面，化學元素受到高能光子或粒子的照射，如內層電子被激發(fā)，則當外層電子躍遷時，會放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續(xù)譜。如果激發(fā)光源為x射線，則受激產生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產生的過程。

應用領域
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀
行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復性0.05·穩(wěn)定性0.05
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護
ROHS檢測儀相關基礎術語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關的，測量的時間越長，則精度越高。
2.重復性
定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標準偏差。
3.準確度
定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也一定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87.測定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計數(shù)統(tǒng)計誤差
在放射性物質的測量中，假設儀器穩(wěn)定性、機械在現(xiàn)性可確保，由儀器機械產生的誤差可以忽略不計，但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能。X射線強度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計誤差。時間越長，則相對偏差越小，即精度越高。
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