ROHS檢測(cè)儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測(cè)儀報(bào)價(jià)和配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測(cè)儀報(bào)價(jià)。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測(cè)器的高分辨力，對(duì)元素含量進(jìn)行定性定量測(cè)試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測(cè)試的檢測(cè)光譜儀
技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
分析含量：0.1ppm～99.9
重復(fù)性：0.1
穩(wěn)定性：0.1
環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
儀器配置:
超銳X光源和樣品激發(fā)機(jī)構(gòu) 
上蓋電動(dòng)開關(guān)的大容量樣品腔 
可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
Si-PIN探測(cè)器 
信號(hào)檢測(cè)電子電路 
高低壓電源 
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 
X熒光分析軟件

X熒光光譜測(cè)試儀器用于檢測(cè)rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價(jià)Cr以及總Br、Cl等元素含量的儀器，X熒光光譜測(cè)試儀器適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路板，汽車內(nèi)飾，設(shè)備等是否符合歐盟指令標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)儀器。

EDX采用新一代的鈹窗X大功率光管，比市場(chǎng)上其它同類設(shè)備壽命提高了5000小時(shí)，為了壓縮成本，在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)優(yōu)化和硬件上進(jìn)一步高質(zhì)設(shè)計(jì)，減少一些不必要的-客戶在實(shí)際使用中并用不上的軟硬件配置，很大程度上節(jié)省了產(chǎn)品的成本費(fèi)用，使得成本降低20多，直接讓利給客戶。成為市場(chǎng)上的暢銷型產(chǎn)品。成為很多小型工廠的。在應(yīng)用上屬于通用型產(chǎn)品，應(yīng)用于一切材料的ROHS和無鹵檢測(cè)，EDX5500對(duì)被檢測(cè)材料的種類，化學(xué)或物理性質(zhì)都沒有限制，無論是成品，或半成品，無論是金屬，塑膠，皮革，化工，鞋材，合成料，固體，液體，粉末等，都能準(zhǔn)確，無損，快速地檢測(cè)。EDX5500-ROHS檢測(cè)儀器，廣泛應(yīng)用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領(lǐng)域環(huán)保臨測(cè)。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）包含ROHS和鹵素的所有元素?？梢詼?zhǔn)確定量。測(cè)量時(shí)間：200S
配新算法的ROHS分析軟件，鹵素分析軟件，材料成份分析軟件，軟件算法為德國(guó)。
檢出限：分析檢出限可達(dá)1ppm。含量范圍：1ppm～99.9穩(wěn)定性：0.01管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測(cè)器：SDD探測(cè)器，分辨率可達(dá)135eV準(zhǔn)直器：10種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換濾光片：6種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

性能優(yōu)勢(shì):
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求 
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用 
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn) 
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率，高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
檢出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99 
重復(fù)性：0.05（含量96以上） 
穩(wěn)定性：0.05（含量96以上）
分析原理：
ROHS檢測(cè)儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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