天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說(shuō)明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析，無(wú)需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
解讀RoHS指令和WEEE指令
2003年2月13日，歐盟公布了《關(guān)于報(bào)廢電子電氣設(shè)備的指令》（2002/96/EC,簡(jiǎn)稱WEEE）和《關(guān)于電子 電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)的指令》（2002/95/EC,簡(jiǎn)稱RoHS）,規(guī)定從2005年8月13日起實(shí)施WE EE的生 產(chǎn)者責(zé)任，從2006年7月1日起在相關(guān)電子電器中禁止使用六種有害物質(zhì)。有害物質(zhì)元素 Cd Pb Hg Cr6+ PBBS PBDES  Cl Cl+Br

應(yīng)用領(lǐng)域
固廢快速檢測(cè)
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)
主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行、飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)
儀器配置
樣品平臺(tái)
信噪比增強(qiáng)器
SDD探測(cè)器
檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認(rèn)的RoHS篩選檢測(cè)儀器，由于其檢測(cè)速度快、分辨率高、實(shí)施無(wú)損檢測(cè)，所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多，以至于分不出誰(shuí)好誰(shuí)差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測(cè)方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到：“用能量散射X射線熒光光譜法（ED－XRF）或波長(zhǎng)散射X射線熒光光譜法（WD－XRF）對(duì)試樣中目標(biāo)物進(jìn)行測(cè)試，可以是直接測(cè)量樣品（不破壞樣品），也可以是破壞樣品使其達(dá)到”均勻材料”（機(jī)械破壞試樣）后測(cè)試?！蹦苷嬲郎?zhǔn)確無(wú)誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在保證既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測(cè)。尤其是企業(yè)選購(gòu)，光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測(cè)用，非常看重這一點(diǎn)。所以，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，又能限度地縮小“不確定”部分，而且全部過(guò)程是在短的時(shí)間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿足使用要求的光譜儀

EDX1800B性能特點(diǎn)
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求；
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用；
平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)；
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性；
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說(shuō)，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的，測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng)，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時(shí)候，測(cè)到的含量的置信度（可信的程度）是99.87.測(cè)定檢出，一般要用含量比較低的樣品來(lái)測(cè)量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì)，但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng)，則相對(duì)偏差越小，即精度越高。
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