ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報(bào)價(jià)和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報(bào)價(jià)。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測器的高分辨力，對元素含量進(jìn)行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
性能優(yōu)勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用 
移動(dòng)平臺：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺，方便定位測試點(diǎn) 
高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實(shí)現(xiàn)更高的測試效率，高達(dá)100W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率
技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
檢出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％ 
重復(fù)性：0.05％（含量96％以上） 
穩(wěn)定性：0.05％（含量96％以上）

ROHS檢測儀主要性能優(yōu)勢：
1、采用激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測系統(tǒng)，提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現(xiàn)代化的外觀，結(jié)構(gòu)和色彩，上蓋電動(dòng)控制開關(guān)，更人性化；
3、準(zhǔn)直器，濾光片自動(dòng)切換，可適應(yīng)不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟件。

EDX5600是國內(nèi)應(yīng)用多的一款設(shè)備，除了較高的性價(jià)比外，其更人性化的設(shè)計(jì)軟硬件，使其在電子電器，通訊制造，家電配件，塑膠，五金等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，采用新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時(shí)，在應(yīng)用上屬于通用型ROHS檢測儀器。
技術(shù)參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U） 可以測量包括ROHS鹵素元素外的70多種元素。
有ROHS分析軟件，只針對ROHS六項(xiàng)測試和鹵素元素測試的窗口。一健式操作。
測試時(shí)間可人為設(shè)置，可短或長。一般測量時(shí)間：60S-200S
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測試0.005μm 檢出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就檢不出來。含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01% 管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：半導(dǎo)體電子制冷探測器，分辨率可達(dá)165eV準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換濾光片：4種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

優(yōu)化散熱設(shè)計(jì)，散熱效果更好；
內(nèi)置高清攝像頭，準(zhǔn)確的觀察樣品放置位置；
打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計(jì)，采用流線體的整體化設(shè)計(jì)，儀器時(shí)尚；
采用探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低；
采用SES信號增強(qiáng)處理系統(tǒng)，有效提高測量的靈敏度，讓測量更；
一鍵式自動(dòng)測試，使用更簡單，操作更方便，界面更人性化；
七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng)，能根據(jù)不同樣品自動(dòng)切換；
一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到較大提高，保證了核心部件的運(yùn)行穩(wěn)定；
機(jī)芯溫度技術(shù)，保證X射線源的可靠運(yùn)行，使用壽命長，降低使用成本；
多重儀器配件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過軟件進(jìn)行全程, 讓儀器工作更穩(wěn)定；
鹵素用測試軟件，標(biāo)準(zhǔn)視窗設(shè)計(jì)，操作方便；
本機(jī)采用USB接口，有效地保證了數(shù)據(jù)準(zhǔn)確高速有效的傳輸。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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