ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報(bào)價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報(bào)價。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測器的高分辨力，對元素含量進(jìn)行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
相比之前的傳統(tǒng)的ROHS檢測儀，雖然它們大多型號也能在原基礎(chǔ)升級為鹵素測試，但需在硬件和軟件上做較大的改動，且成本較高，目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設(shè)計(jì)，成本較高些，而天瑞的EDX1100在算法軟件上，將ROHS測試和鹵素測試一體化，兩者化二為一，等于是一個整體，在產(chǎn)品成本上大大得到了壓縮，也等于是直接讓利了客戶，相比之前分體式設(shè)計(jì)也能同時檢測ROHS和鹵素的機(jī)臺，EDX1100的一體化設(shè)計(jì)，成本至少降低了30%，EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應(yīng)用上屬于通用于ROHS檢測儀器，廣泛應(yīng)用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領(lǐng)域環(huán)保臨測。
技術(shù)參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）測量時間：200S
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測試0.005μm含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達(dá)125eV準(zhǔn)直器：6種準(zhǔn)直器自動切換濾光片：5種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

玩具法規(guī)在全世界范圍內(nèi)不斷完善，如歐盟的《玩具指令》、美國的玩具標(biāo)準(zhǔn)-ASTM F963、ISO中一些關(guān)于玩具標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)對于玩具企業(yè)來說，執(zhí)行這些標(biāo)準(zhǔn)責(zé)無旁貸；至于說到管控成本過高的問題，其實(shí)是玩具企業(yè)沒有找到合適的解決方案。
針對玩具檢測設(shè)備，X熒光光譜儀是經(jīng)濟(jì)有效的檢測設(shè)備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產(chǎn)過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、汞、硒等）、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測結(jié)果可以和化學(xué)檢測媲美，還節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過程中必不可少的檢測工具。

技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
分析含量：0.1ppm～99.9%
重復(fù)性：0.1%
穩(wěn)定性：0.1%
環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
儀器配置:
超銳X光源和樣品激發(fā)機(jī)構(gòu) 
上蓋電動開關(guān)的大容量樣品腔 
可自動切換的準(zhǔn)直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
Si-PIN探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 
X熒光分析軟件

ROHS檢測儀主要性能優(yōu)勢：
1、采用激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測系統(tǒng)，提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現(xiàn)代化的外觀，結(jié)構(gòu)和色彩，上蓋電動控制開關(guān)，更人性化；
3、準(zhǔn)直器，濾光片自動切換，可適應(yīng)不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟件。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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