X熒光鍍層測厚儀硬件配置
高功率高壓單元搭配微焦斑的X光管,大的保證了信號輸出的效率與穩(wěn)定性。
EDX能的將不同的元素準(zhǔn)確解析,針對多鍍層與復(fù)雜合金鍍層的測量,有著不可比擬的優(yōu)勢。
在準(zhǔn)直器的選擇上,EDX金屬鍍層測厚儀也有著很大的優(yōu)勢,它可以搭配的準(zhǔn)直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的準(zhǔn)直器得到的超小光斑,讓更小樣品的測量也變得游刃有余。
天瑞全新一代EXPLORER 9000手持式XRF土壤重金屬分析儀吸引了很多人的目光。儀器可對污染土壤中的汞、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩、鉻、錳等重金屬元素進(jìn)行有效檢測，還可根據(jù)客戶需求定制增加檢測元素。并內(nèi)置GPS功能，確定取樣點(diǎn)的地理位置信息，快速普查超大范圍的土壤地質(zhì)污染區(qū)，建立污染地圖，實(shí)時(shí)各區(qū)域的污染情況。還能快速、現(xiàn)場追蹤污染異常，有效尋找“污點(diǎn)”地帶，圈定污染區(qū)域邊界。
在應(yīng)急水污染檢測方面，天瑞的 HM-5000P多功能便攜式重金屬分析儀憑借著便攜、快速、抗干擾性強(qiáng)的特點(diǎn)得到了市場的認(rèn)可，是天瑞的明星產(chǎn)品。同時(shí)WAOL3000-HM地表（地下）水質(zhì)重金屬在線分析儀能實(shí)時(shí)監(jiān)測水樣中多種重金屬含量，其顯著特點(diǎn)包括檢出限低、準(zhǔn)確度高、操作方便，維護(hù)成本低等，可廣泛應(yīng)用于地表水、自來水、地下水、河流湖泊以及海水、工業(yè)生產(chǎn)廢水等領(lǐng)域。
EHM-X200大氣重金屬在線分析儀創(chuàng)新地將X熒光（XRF）無損檢測技術(shù)、β射線吸收檢測技術(shù)與空氣顆粒物自動(dòng)富集技術(shù)結(jié)合。不僅可以檢測大氣PM2.5，還可以同時(shí)檢測空氣顆粒物中重金屬的成分和濃度，讓檢測工作更加方便。在面對工業(yè)煙氣監(jiān)測方面，天瑞儀器研發(fā)的GALAS 6激光在線氣體分析儀采用半導(dǎo)體激光吸收光譜技術(shù)測量氣體吸收強(qiáng)度，儀器不受H2O、CO2及粉塵的影響，測量更準(zhǔn)確，分辨率更高，壽命更長，已廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)類型的煙氣監(jiān)測和檢測中。

天瑞儀器在X射線熒光光譜儀行業(yè)屢創(chuàng)輝煌，譬如，生產(chǎn)的食品重金屬快速檢測儀EDX 3200S PLUS X，采用了能量色散X射線熒光光譜技術(shù)實(shí)現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測，操作簡單，自動(dòng)化程度高，可同時(shí)檢測24個(gè)樣本；在多年同時(shí)式波長色散X射線熒光光譜儀的研發(fā)和產(chǎn)品化基礎(chǔ)上，在國家重大科學(xué)儀器設(shè)備開發(fā)專項(xiàng)資金支持下，融合的科技創(chuàng)新和發(fā)明，推出了國內(nèi)臺(tái)商業(yè)化順序式波長色散X射線熒光光譜儀——WDX 4000，為土壤重金屬檢測提供新支持；成功研發(fā)EXPLORER手持式能量色散X射線熒光光譜儀，促進(jìn)了儀器的小型化與便攜化等。
今后，天瑞儀器將繼續(xù)以“行業(yè)”為目標(biāo)，不斷提升技術(shù)水平，使國產(chǎn)儀器媲美國外，走向國際。同時(shí)，天瑞儀器著眼于日益嚴(yán)峻的環(huán)保形勢，積極調(diào)整產(chǎn)品結(jié)構(gòu)，致力于環(huán)保解決方案的提供，守護(hù)碧水藍(lán)天。與時(shí)俱進(jìn)開拓創(chuàng)新，用科學(xué)技術(shù)服務(wù)于國家，服務(wù)于，是每

產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域
測量超微小部件和結(jié)構(gòu),如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層;
分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);
全自動(dòng)測量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標(biāo)準(zhǔn)。

軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控，讓您的使用更加放心。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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