ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
隨著環(huán)境意識和健康意識的提高，人們對于汽車行業(yè)中有害元素和有機污染物的關注不斷增加。歐盟會和歐洲議會為保護環(huán)境、減少車輛報廢產(chǎn)生的廢棄物制定了ELV（End-of-Life Vehicle）即報廢車輛指令，明確規(guī)定2003年7月以后生產(chǎn)的汽車禁用鉛、鎘、汞和六價鉻四種有害物。2012年3月1日，國家環(huán)保部與質(zhì)檢總局聯(lián)合發(fā)布了GB/T 27630《乘用車內(nèi)空氣質(zhì)量評價指南》，明確規(guī)定了車內(nèi)空氣中有關苯、、二、乙苯、苯乙烯、、乙醛、8種常見的車內(nèi)揮發(fā)性有機物濃度的限值。給客戶提供一個更加健康舒適的乘車環(huán)境，是對汽車生產(chǎn)制造企業(yè)的必然要求。
天瑞儀器為分析儀器的，一直致力于為客戶提供更加的產(chǎn)品和更加滿意的服務。天瑞儀器針對汽車行業(yè)測試需求（有害元素分析、有機污染物分析、合金材料分析、涂覆層厚度測試）給出相應的測試方案。
一、有害元素分析
歐盟議會和理事會在2000年9月18日頒布了“2000/53/EC關于報廢汽車的技術指令”，規(guī)定在2003年7月以后，原則上要求汽車材料不能含有鉛、汞、鎘和六價鉻四種有害物。這是全球?qū)ζ嚥牧虾亟饘賳栴}進行規(guī)范。此后，歐盟相繼頒布了“2002/525/EC”和“2005/673/EC”技術指令，對原“2000/53/EC”技術指令附錄二中有關重金屬禁用的豁免條款進行了修訂，終形成了歐盟對汽車產(chǎn)品重金屬禁用的技術法規(guī)體系。

性能優(yōu)勢:
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用 
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點 
高分辨率探測器：提高分析的準確性 
新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實現(xiàn)更高的測試效率，高達100W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
技術指標:
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
檢出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％ 
重復性：0.05％（含量96％以上） 
穩(wěn)定性：0.05％（含量96％以上）

相比之前的傳統(tǒng)的ROHS檢測儀，雖然它們大多型號也能在原基礎升級為鹵素測試，但需在硬件和軟件上做較大的改動，且成本較高，目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設計，成本較高些，而天瑞的EDX1100在算法軟件上，將ROHS測試和鹵素測試一體化，兩者化二為一，等于是一個整體，在產(chǎn)品成本上大大得到了壓縮，也等于是直接讓利了客戶，相比之前分體式設計也能同時檢測ROHS和鹵素的機臺，EDX1100的一體化設計，成本至少降低了30%，EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應用上屬于通用于ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領域環(huán)保臨測。
技術參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）測量時間：200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV準直器：6種準直器自動切換濾光片：5種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

ROHS檢測儀主要性能優(yōu)勢：
1、采用激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構和探測系統(tǒng)，提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現(xiàn)代化的外觀，結(jié)構和色彩，上蓋電動控制開關，更人性化；
3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測試軟件。
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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