X熒光鍍層測(cè)厚儀硬件配置
高功率高壓?jiǎn)卧钆湮⒔拱叩腦光管,大的保證了信號(hào)輸出的效率與穩(wěn)定性。
EDX能的將不同的元素準(zhǔn)確解析,針對(duì)多鍍層與復(fù)雜合金鍍層的測(cè)量,有著不可比擬的優(yōu)勢(shì)。
在準(zhǔn)直器的選擇上,EDX金屬鍍層測(cè)厚儀也有著很大的優(yōu)勢(shì),它可以搭配的準(zhǔn)直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的準(zhǔn)直器得到的超小光斑,讓更小樣品的測(cè)量也變得游刃有余。
x射線測(cè)厚儀是一種檢測(cè)儀器，以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，已達(dá)到要求的軋制厚度。
    x射線測(cè)厚儀是一種，以和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度，已達(dá)到要求的軋制厚度。今天我們主要來介紹一下x射線測(cè)厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成方法，希望可以幫助用戶更好的應(yīng)用產(chǎn)品。
用戶操作終端
用戶操作終端包括一個(gè)的計(jì)算機(jī)和高分辨率的彩色?？娠@示整個(gè)系統(tǒng)的檢測(cè)、設(shè)定、偏差值;用戶通過軟件顯示頁(yè)面可直接控制和操作測(cè)厚儀。主操作頁(yè)顯示正常操作所需的各種數(shù)據(jù)。維護(hù)頁(yè)面顯示系統(tǒng)正常工作時(shí)各種參數(shù)高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質(zhì)量有關(guān)的重要數(shù)據(jù)如厚差曲線、厚度與長(zhǎng)度關(guān)系曲線均可打印。技術(shù)員能很容易地通過操作終端的報(bào)表打印功能，打印出來以顯示可用信息。
冷卻系統(tǒng)
本系統(tǒng)配備有冷卻裝置，該裝置的關(guān)鍵部件，壓縮機(jī)組均采用進(jìn)口原裝組件，具有可靠性高、噪音小、控溫精度高，經(jīng)久耐用等特點(diǎn)。通過C型架上進(jìn)出油口進(jìn)行冷卻。了關(guān)鍵部件的使用壽命。
X射線發(fā)射源及接收檢測(cè)頭
采用X射線管和。X射線管裝在一個(gè)抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻，高壓等級(jí)根據(jù)有所區(qū)別，加上具有的溫度自動(dòng)保護(hù)與功能，提高了X射線管的穩(wěn)定性和使用壽命。模塊化設(shè)計(jì)、免維護(hù)設(shè)計(jì)方案及規(guī)范的制造保證了設(shè)備系統(tǒng)高可靠性。
檢測(cè)頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測(cè)頭，離子室設(shè)計(jì)具有大空間，高抗干擾性、高靈敏度等特點(diǎn)。系統(tǒng)備有風(fēng)冷、油冷恒溫冷卻單元，系統(tǒng)的使用壽命。
主控制柜
主控制柜是一個(gè)立式控制臺(tái)，是個(gè)系統(tǒng)的心臟。根據(jù)制系統(tǒng)配置不同，P型采用S7-400PLC作為控制計(jì)算中心;G型采用為控制計(jì)算中心?？刂乒褙?fù)責(zé)采集和處理從前置放大器傳來的，負(fù)責(zé)測(cè)厚儀數(shù)據(jù)處理和與軋機(jī)AGC系統(tǒng)的接口輸出，為軋機(jī)AGC系統(tǒng)提供測(cè)厚數(shù)據(jù)及控制。控制柜還提供整個(gè)系統(tǒng)穩(wěn)定的和現(xiàn)場(chǎng)顯示器的顯示數(shù)據(jù)。

Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
2、性能優(yōu)勢(shì)
精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
的圖像識(shí)別 
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限，提高測(cè)試精度
全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!
開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位 
開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測(cè)試平臺(tái)，方便放樣 
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦 
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn) 
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕，自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果

X熒光測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。它能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度，無(wú)需樣品預(yù)處理；分析時(shí)間短，僅為數(shù)十秒；即可分析出各金屬鍍層的厚度，分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。當(dāng)鍍層樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線，探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光轉(zhuǎn)變?yōu)槟M；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理；計(jì)算機(jī)的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。 
我公司集中了國(guó)內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠多年的科學(xué)研究，總結(jié)多年的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測(cè)厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)。 
我公司新研制的X熒光測(cè)厚儀，廣泛用于用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液厚度的測(cè)量。  
1. 儀器特點(diǎn)： 
Ø  同時(shí)分析元素周期表中由鈦（Ti）以上元素的鍍層厚度； 
Ø  可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度； 
Ø  無(wú)需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程；分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.01M到60M ； 
Ø  采用的探測(cè)器技術(shù)及的處理線路，處理速度快，精度高，穩(wěn)定可靠； 
Ø  采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管，激發(fā)與測(cè)試條件采用計(jì)算機(jī)軟件數(shù)碼控制與顯示； 
Ø  采用彩色攝像頭，準(zhǔn)確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像； 
Ø  采用電動(dòng)控制樣品平臺(tái)，可以進(jìn)行X-Y-Z的，準(zhǔn)確方便； 
Ø  采用雙激光對(duì)焦系統(tǒng)，準(zhǔn)確定位測(cè)量位置； 
Ø  度高，穩(wěn)定性好，故障率低； 
Ø  采用多層屏蔽保護(hù)，安全性可靠； 
Ø  WINDOWS XP 中文應(yīng)用軟件，特的分析方法，完備強(qiáng)大的功能，操作簡(jiǎn)單，使用方便,  分析結(jié)果存入標(biāo)準(zhǔn)ACCESS數(shù)據(jù)庫(kù)；  
2、儀器的技術(shù)特性 
2.1 X-Y-Z樣品平臺(tái)裝置 
 X熒光測(cè)厚儀的X-Y-Z樣品平臺(tái)裝置具有可容納各種形態(tài)被測(cè)樣品的樣品室。 
樣品種類：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。 
平臺(tái)：X-Y-Z采用電動(dòng)方式，實(shí)用方便。

隨著工業(yè)、能源以及交通等需求的不斷增長(zhǎng)，環(huán)境污染問題日益突出。天瑞儀器作為國(guó)內(nèi)化學(xué)分析行業(yè)的，將化學(xué)分析與環(huán)境監(jiān)測(cè)檢測(cè)相結(jié)合，用科學(xué)技術(shù)助力環(huán)境保護(hù)。目前，天瑞儀器的各類環(huán)保產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于工廠、工業(yè)園區(qū)、監(jiān)測(cè)站、環(huán)保部門等不同領(lǐng)域，對(duì)環(huán)境檢測(cè)檢測(cè)提供了有力的數(shù)據(jù)支撐。而天瑞，也一直朝著“讓地球重現(xiàn)藍(lán)天碧水環(huán)境、讓人類永享田園牧歌生活”的美好愿景努力著。Cube 100在測(cè)量金、銀、鉑等貴金屬以及首飾內(nèi)壁含量上功能到。采用高分辨率SDD或者Sipin探測(cè)器，可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳等元素的含量，同時(shí)還可以測(cè)試鎘和鉛等有害物質(zhì)。測(cè)試結(jié)果完全符合國(guó)標(biāo)GB/T 18043-2013要求。
該產(chǎn)品設(shè)計(jì)精巧、輕便，凈重不超過5kg，設(shè)備自帶把手，方便提攜；萬(wàn)向測(cè)試支架，方便測(cè)試小部件樣品和混合金屬飾品等；內(nèi)置攝像頭，可為待測(cè)樣品提供準(zhǔn)確圖片，并保存到測(cè)試報(bào)告中； 儀器配置Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm三組準(zhǔn)直器組合，結(jié)合樣品腔，可應(yīng)對(duì)測(cè)試不同大小樣品的需要；FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動(dòng)匹配曲線，操作一步到位。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
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