金屬光譜分析儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械及其他工業(yè)部門，進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產(chǎn)品檢驗，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。能對金屬材料中化學(xué)元素成份作檢測；可對鐵基、鋁基、銅基、鎳基等廣泛元素作定量。
折返式前光路設(shè)計，使光路結(jié)構(gòu)更加緊湊；方便可拆卸的光窗及入射狹縫設(shè)計，使維護(hù)清潔更加簡單。 出射狹縫采用德國高精度加工中心整體加工，包括所有可能用到的120個分析通道定位，可以滿足各種基體元素分析；這種設(shè)計方式，為以后增加通道帶來方便。 鋁合金整體光學(xué)室與特制加熱恒溫設(shè)計，確保光學(xué)室系統(tǒng)長期穩(wěn)定性。
氬氣流沖洗確保光學(xué)系統(tǒng)潔凈，減少定期檢修次數(shù)。根據(jù)應(yīng)用不同，光學(xué)室可以用真空及非真空狀態(tài)。軟件系統(tǒng)操作簡單，但功能強(qiáng)大，許多分析和校準(zhǔn)功能都是自動的，提示并引導(dǎo)操作者分步完成。對于有經(jīng)驗的光譜用戶，該軟件提供基礎(chǔ)計算和參量修改設(shè)置，特別是針對曲線擬合的可視化編輯方面。


技術(shù)性能及參數(shù)

1.分光室設(shè)計
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)
恒溫控制（34℃±0.5℃）
材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600 l/mm
一級光譜線色散率：1.2 nm/mm
波長范圍200-500nm
3.檢測器
高性能線陣CCD
4.分析時間
依樣品種類而不同，一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺
4mm樣品臺分析間隙
噴射電極技術(shù)
無待機(jī)流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高300mm 長 500mm 寬 450mm
30 kg
8.功率
功率700 W
待機(jī)功率40 W

金屬光譜分析儀能對金屬材料中化學(xué)元素成份作檢測；可對鐵基、鋁基、銅基、鎳基等廣泛元素作定量。

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗、產(chǎn)品分選多方面檢驗需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術(shù)，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。
配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素、分析程序。
國際供應(yīng)商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

工作條件
工作溫度：15-30℃
相對濕度：≤70%
電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實驗室無震動、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體
技術(shù)性能及指標(biāo)
1.   分光室設(shè)計
帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm
波長范圍140 – 680nm
像素分辨率10pm
恒溫33℃±0.2℃
材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運行時間小于5%
2.   凹面光柵
刻線密度3600l/mm
一級光譜線色散率：1.04 nm/mm
3.   檢測器
高性能線陣CMOS
4.   分析時間
依樣品種類而不同，一般少于40秒
5.   激發(fā)光源

光電直讀光譜儀
傳統(tǒng)的光譜檢測系統(tǒng)為單色儀家光電倍增管（PMT）。20世紀(jì)70年代以來，人們欲利用光電二級管陣列（SPDA）等光電傳感器以建立三維光譜圖，并發(fā)展相應(yīng)的處理技術(shù)。SPDA不僅能獲得某一波段范圍內(nèi)的檢測信息，還具有靈活的積分能力，但是它的靈敏度和動態(tài)范圍不及PMT，而且噪聲較大，線性范圍窄，暗電流也大，而CCD卻彌補(bǔ)了這些缺點。
CCD具有與光譜儀器密切相關(guān)的一些特性：
（1）靈敏度高，噪聲低。CCD器件具有很高的量子效率，至少為10%，可達(dá)90%以上。它的電荷轉(zhuǎn)移率幾乎達(dá)，它在低溫下工作時幾乎無暗電流，噪聲幾乎接近于零，新的CCD器件，已經(jīng)實現(xiàn)了在常溫下具有很高的信噪比，極低的暗電流，完全滿足了儀器在常溫及微量分析上的要求，上述優(yōu)點使CCD器件的靈敏度超過其他探測器（如PMT何SPDA），檢測下限達(dá)pg級甚至fg級。
（2）光譜范圍寬（200~1050nm）。在可見光區(qū)（400~500nm）量子效率可高達(dá)90%，在遠(yuǎn)紫外區(qū)（200nm）和近紅外（100nm）間，量子效率至少為10%，在100~1100nm寬的光譜區(qū)域，CCD都有很高的量子效率，而大多數(shù)的發(fā)射、吸收和散射的光譜儀器這區(qū)域工作，因此CCD成為各類光譜儀器的理想探測器。
（3）動態(tài)線性響應(yīng)范圍寬，達(dá)10個數(shù)量級。CCD具有很寬的響應(yīng)范圍和理想的響應(yīng)線性，達(dá)10個數(shù)量級（10?-106），而且在整個動態(tài)響應(yīng)范圍內(nèi)，都能保持線性響應(yīng)，這對光譜定量分析具有特別意義。
（4）幾何尺寸穩(wěn)定，耐過度曝光。CCD經(jīng)長時間運轉(zhuǎn)，其幾何性能、熱性能和電性能均很穩(wěn)定，不怕過度曝光，因此比PMT結(jié)實耐用。
（5）可以同時多道采樣，得到波長-強(qiáng)度-時間的三維譜線圖，與光電陰極器件聯(lián)用，可觀察X射線圖像。
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