ROHS光譜環(huán)保測試儀應用領域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)


ROHS環(huán)保測試儀性能優(yōu)勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護
測試儀技術參數(shù)

元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍：15℃ ~ 30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg

ROHS光譜測試儀儀器配置

樣品平臺 
SDD探測器
檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機

天瑞環(huán)保測試儀的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率：采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

性能特點

的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
同時分析元素：24種元素同時分析
功能范圍：水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析
分析精度：0.05% （對含量96%以上元素） 
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體 
測量時間：60s—200s  
能量分辨率為：（±5）eV  
管壓：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA

標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器 
光路增強系統(tǒng) 
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片 
的升降平臺 
加強的金屬元素感度分析器 
外觀尺寸： 650×608×466 mm 
樣品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg 

國產(chǎn)x熒光光譜儀應用領域

測試高爐渣、生鐵、燒結(jié)礦、球團礦、白云石、膨潤土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。

昆山環(huán)保測試儀EDX0B是經(jīng)濟有效的檢測設備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產(chǎn)過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等）、包裝物料的有元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結(jié)果度極高。X熒光光譜儀的檢測結(jié)果可以和化學檢測媲美，還大大節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前天瑞X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導綠色生產(chǎn)過程中必不可少的檢測工具。更準確的檢測結(jié)果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更的服務。全新開發(fā)研制的EDX 3000D正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無損、直觀及環(huán)保特點，同時EDX 3000D還采用了天瑞儀器產(chǎn)品的信噪比增強器進一步提升了檢測結(jié)果的準確性。
性能特點
半導體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷
自動濾光片選擇
多種準直器自動切換
三重安全保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
樣品腔自動開關
軟件定位樣品平臺，小位移 0.01 mm
自動切換準直器和濾光片，分別針對不同樣品
特別開發(fā)測量軟件，操作界面十分友好
內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時檢測樣品
高貴時尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊
的自動平臺，更方便地調(diào)節(jié)樣品位置
采用天瑞儀器產(chǎn)品--信噪比增強器 SNE，大幅提高光譜儀測量的確定性和度
配合自動平臺全新開發(fā)的樣品定位系統(tǒng)，實現(xiàn)“點”哪測哪
鼠標輕點樣品視圖中需要檢測部位，EDX 3000D 將樣品至位置，完成檢測。
產(chǎn)品指標

測試元素范圍：S-U中的元素；

探測器類型：Si-PIN電制冷 

探測器分辨率：145eV

高壓范圍：0-50kV，50W

X光管參數(shù)：0-50kV，50W側(cè)窗類；

光管材：Mo；

濾光片：4種復合濾光片自動切換；

微范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

開蓋方式：隨意自動停

測試樣品種類：液體、固體和粉末

測量范圍：1ppm—99.99%

測量用時：120-400秒

測試環(huán)境：非真空測試

RoHS檢出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm，

準直器：1mm 2mm 4mm

環(huán)保測試儀的技術優(yōu)點:
1、分析速度高 測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
3、非破壞分析在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)屬同一族的元素能進行分析。

環(huán)保測試儀產(chǎn)品介紹
隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢越來越嚴格，X射線熒光環(huán)保測試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。天瑞儀器是生產(chǎn)環(huán)保測試儀的廠商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探測器，提供激發(fā)效率和測試精度。

環(huán)保測試儀技術指標：
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

環(huán)保測試儀的工作原理
利用X射線熒光光譜儀，使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量；k為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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