x射線熒光X-ray膜厚儀介紹

x射線熒光X-ray膜厚儀咨詢服務(wù)天瑞儀器公司專業(yè)生產(chǎn)膜厚儀X-ray檢測儀解決電鍍銅鎳厚度測試。天瑞儀器是金屬鍍層測厚儀三大品牌之一，另外兩個品牌分部是費希爾和牛津。天瑞的thick800a滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可精確定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)。

良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測驗，是一款上招式設(shè)計的，自帶三維移動平臺，XYZ可定點，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點。這款功能強大的儀器，配上天瑞儀器專門為其開發(fā)的鍍層測厚軟件，在鍍層檢測中可謂大展身手。

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖：

技術(shù)指標(biāo)

1、儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制

檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

2、儀器重量：90kg

3、SDD半導(dǎo)體探測器：

探測器輸入電壓：±12V，+5V

探頭窗口面積：25mm-2---

探頭窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1mA

靶材：W靶

窗口：鈹窗

制冷方式：風(fēng)冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發(fā)生器：

輸入電壓：24V

輸入較大電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2mA

燈絲較大電壓：5V

燈絲較大電流：3.5A

6、MCA多道分析器：

輸入電壓：±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數(shù)：12位

分析道數(shù)：2048道

7、準(zhǔn)直器系統(tǒng)：

準(zhǔn)直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)

濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)

8、高清晰攝像頭：

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：USB2.0

傳感器廠商：索尼

快門類型：面陣

光學(xué)尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

9、自動對焦系統(tǒng)：

通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器

實現(xiàn)樣品高度的自動對焦。

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。

產(chǎn)品輻射報告：

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè)，注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質(zhì)譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術(shù)有限公司、上海磐合科學(xué)儀器股份有限

售后服務(wù)：

公司本著“客戶至上、高效快捷、誠信務(wù)實、價格合理"的經(jīng)營合作理念,為您提供快速優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。產(chǎn)品送貨上門，培訓(xùn)安裝，耗材配件，實驗室打包解決方案。

專業(yè)的400售后維修熱線，7*24小時在線，4小時響應(yīng)，24小時上門服務(wù)。

膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。