天瑞X射線膜厚測試儀性能介紹及配置：

此型號為Thick800a

詳細配置信息：

一、硬件：主機壹臺，含下列主要部件：  

(1)  X光管（牛津）           (2)Si-PIN電制冷半導體探測器（美國AMPTEK）  

(3)    信號檢測電子電路        (4)    高精度二維移動平臺

(5)    高清晰攝像頭            (6) 高低壓電源(SPELLMAN)

(7)  開放式樣品腔            (8）雙激光定位裝置

(9)  鉛玻璃屏蔽罩

二、軟件及其他：天瑞X射線膜厚測試儀FpThick分析軟件V1.0

2.1    計算機、打印機各一臺

計算機（聯(lián)想，內(nèi)存2G,硬盤500G液晶顯示屏19寸）、Intel Pentium G3220*處理器

打印機（佳能，彩色噴墨打印機）

2.2    資料：器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。

2.3    標準附件

 準直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可選其中一種）

（已內(nèi)置于儀器中）

天瑞X射線膜厚測試儀產(chǎn)品圖片：

     性能描述：

      滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

　　φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

　　高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

　　采用高度定位激光，可自動定位測試高度

　　定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

　　鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

　　高分辨率探頭使分析結果更加精準

　　良好的射線屏蔽作用

　　測試口高度敏感性傳感器保護

天瑞X射線鍍層測厚儀使用環(huán)境：

 環(huán)境溫度要求：15℃-30

環(huán)境相對濕度：<70

工作電源：交流220±5V

周圍不能有強電磁干擾。

天瑞X射線鍍層測厚儀技術指標：

分析元素范圍：K-U

同時可分析多達5層鍍層

分析厚度檢出限較高達0.005μm

定位精度：0.1mm

測量時間：5s-300s

計數(shù)率：0-8000cps

Z軸升降范圍：0-140mm

X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)

銅鍍鎳件膜厚儀測試譜圖

樣 品 名

成分Ni()

鍍層Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

標準偏差

0

0.273409

相對標準偏差

0

1.425257

銅鍍鎳件測試值

分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

測量時間：40秒（可根據(jù)實際情況調(diào)整）較小孔徑φ0.2mm

儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm，儀器重量：30kg

應用領域

X熒光鍍層厚度測試儀廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)。

天瑞儀器對X射線膜厚儀提供的售后服務體系：

軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供升級軟件，如需上門升級按技術服務條款收取相關費用；免費保修1年， 免費保修期內(nèi)，維修相關費用全免；

技術服務的響應期限：提供較有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內(nèi)響應；如有必要，12～72個小時內(nèi)派人上門維修和排除故障。

非乙方產(chǎn)品自身故障所造成的現(xiàn)場技術服務（如增加測試功能和數(shù)據(jù)校正等），乙方將按技術服務條款收取相關費用。由甲方人為造成的損傷不在上述保修條款中，具體事例雙方協(xié)商解決。

X-ray鍍層厚度分析儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。X射線鍍層分析儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

X射線是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用較廣泛的測厚儀器。工業(yè)X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現(xiàn)場測量等優(yōu)點，已在冶金、建材、地質(zhì)、環(huán)保、商檢、考古、醫(yī)學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。眾所周知，產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現(xiàn)自動控制等特點。

X熒光鍍層厚度分析儀基本原理

鍍層原理

X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。

產(chǎn)品性能特點和優(yōu)勢：

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

儀器結構圖：

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

thick800a-2

分析案例：

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。

以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行精確定位測試，其測試位置如圖。

鍍層譜圖

分析結果：

鍍層結果

天瑞一直致力于分析儀器事業(yè)，相信天瑞會為電鍍行業(yè)的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。

天瑞儀器作為一個集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設計、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°優(yōu)質(zhì)服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內(nèi)容等各個方面為客戶提供全方位的優(yōu)質(zhì)服務。

我公司為客戶提供技術咨詢、方案設計、技術交流、產(chǎn)品制造、系統(tǒng)集成、現(xiàn)場勘察、工程實施、技術培訓、服務熱線、故障處理、回訪、巡檢等全過程、全方位、全系列的服務。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質(zhì)量的服務，更為客戶創(chuàng)造了更高的價值。

“快速、準確、到位”的服務

較短交貨時間

較快安裝

較短維修周期

較長保修期

較個性化服務

較低維護費用。